ईमानदार माइक्रोस्कोप या उलटा माइक्रोस्कोप?
इस प्रश्न का उत्तर देने से पहले, सीधे सूक्ष्मदर्शी और उल्टे सूक्ष्मदर्शी के बीच अंतर को स्पष्ट करना आवश्यक है।
मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप, जिन्हें सामग्री माइक्रोस्कोप के रूप में भी जाना जाता है, का उपयोग मुख्य रूप से धातुओं की सूक्ष्म संरचना का निरीक्षण करने के लिए किया जाता है। उन्हें सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप और उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में विभाजित किया जा सकता है।
एक सीधा मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप अवलोकन के दौरान एक छवि बनाता है, जो उपयोगकर्ताओं को देखने और अंतर करने में बहुत सुविधा प्रदान करता है। 20-30 मिमी से अधिक ऊंचाई वाले नमूनों को छोड़कर, यह लोगों की सामान्य अवलोकन आदतों के अनुरूप है। इसलिए, इसका व्यापक रूप से पारदर्शी, पारभासी या अपारदर्शी पदार्थों के अवलोकन के लिए उपयोग किया जाता है, जिसमें 3 माइक्रोन से लेकर 20 माइक्रोन तक के अवलोकन लक्ष्य होते हैं, जैसे धातु, सिरेमिक, इलेक्ट्रॉनिक चिप्स, मुद्रित सर्किट, एलसीडी सब्सट्रेट, पतली फिल्में, फाइबर, कण नमूने, कोटिंग्स और सामग्री सतह संरचनाएं। निशानों को अच्छी तरह से संरक्षित और संग्रहित किया जा सकता है। इसके अलावा, सहायक इमेजिंग सिस्टम स्थिर और गतिशील दोनों छवियों को कैप्चर करने के लिए कंप्यूटर से कनेक्ट हो सकता है। मेटलोग्राफी, माप, शिक्षण और वैज्ञानिक अनुसंधान में अधिक पेशेवर जरूरतों को पूरा करने के लिए इसे विभिन्न सॉफ्टवेयर से लैस किया जा सकता है। उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप विभिन्न धातुओं और मिश्र धातुओं की संरचनाओं की पहचान और विश्लेषण करने के लिए ऑप्टिकल इमेजिंग विधियों का उपयोग करता है। यह भौतिक धातु विज्ञान अनुसंधान के लिए एक महत्वपूर्ण उपकरण है। इसका उपयोग कारखानों और प्रयोगशालाओं में कास्टिंग निरीक्षण, कच्चे माल के निरीक्षण और गर्मी उपचार के बाद धातु सामग्री के संरचनात्मक विश्लेषण के लिए व्यापक रूप से किया जाता है, ताकि सहज विश्लेषण परिणाम प्रदान किया जा सके। यह खनन, धातुकर्म, विनिर्माण और मशीनरी प्रसंस्करण उद्योगों में कास्टिंग, गलाने और गर्मी उपचार प्रक्रियाओं में गुणवत्ता की पहचान के लिए प्रमुख उपकरण है। हाल के वर्षों में, इलेक्ट्रॉनिक्स उद्योग को चिप उत्पादन का समर्थन करने के लिए उच्च-आवर्धन वाले फ्लैट नमूनों की आवश्यकता है। इस कारण से, उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप को इस क्षेत्र में पेश किया गया है और उद्योग की विशेष निरीक्षण आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए इन्हें लगातार उन्नत किया जाता है। उल्टे प्रकार से भिन्न, एक सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप पर नमूने की अवलोकन सतह नीचे की ओर होती है और इसे नमूना चरण पर रखा जाता है, जबकि ऑब्जेक्टिव लेंस ऊपर की ओर अवलोकन के लिए मंच के नीचे स्थित होता है। यह फॉर्म नमूना ऊंचाई तक सीमित नहीं है, सुविधाजनक संचालन, कॉम्पैक्ट संरचना और आकर्षक उपस्थिति प्रदान करता है। उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के आधार में स्थिर संचालन के लिए एक बड़ा सहायक क्षेत्र और गुरुत्वाकर्षण का निम्न केंद्र होता है। आरामदायक देखने के लिए ऐपिस ट्यूब सहायक सतह के सापेक्ष 45 डिग्री पर झुकी हुई है।
