उद्योगों में धातुकर्म सूक्ष्मदर्शी के अनुप्रयोग क्षेत्र
मेटलोग्राफी से व्युत्पन्न, मेटलर्जिकल माइक्रोस्कोप एक पेशेवर उपकरण है जिसका उपयोग मुख्य रूप से मेटलोग्राफिक संरचनाओं के अवलोकन के लिए किया जाता है। इसे धातुओं और खनिजों जैसे अपारदर्शी नमूनों की मेटलोग्राफिक माइक्रोस्ट्रक्चर की जांच करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। इन अपारदर्शी नमूनों को सामान्य संचारित-प्रकाश सूक्ष्मदर्शी से नहीं देखा जा सकता है। इसलिए, धातुकर्म माइक्रोस्कोप और पारंपरिक माइक्रोस्कोप के बीच मुख्य अंतर रोशनी में निहित है: पूर्व परावर्तित प्रकाश का उपयोग करता है जबकि बाद वाला संचारित प्रकाश पर निर्भर करता है।
धातुकर्म सूक्ष्मदर्शी में उत्कृष्ट स्थिरता, तेज इमेजिंग, उच्च रिज़ॉल्यूशन और देखने का एक बड़ा सपाट क्षेत्र होता है। अवलोकन न केवल ऐपिस के माध्यम से, बल्कि कंप्यूटर या डिजिटल कैमरे की स्क्रीन पर वास्तविक समय में भी किया जा सकता है। कैप्चर की गई छवियों को संपादित, सहेजा और मुद्रित किया जा सकता है। इन्हें हार्डवेयर प्रोसेसिंग, मेटलोग्राफिक सेक्शनिंग, आईसी घटकों, एलसीडी और एलईडी उद्योगों में व्यापक रूप से लागू किया जाता है।
धातुकर्म सूक्ष्मदर्शी के लिए पांच सामान्य उद्देश्य प्रकार हैं: ईपीआई ब्राइटफील्ड प्रतिदीप्ति, बीडी ब्राइटफील्ड-डार्कफील्ड, एसएलडब्ल्यूडी सुपर-लंबी कार्य दूरी, ईएलडब्ल्यूडी विस्तारित लंबी कार्य दूरी, और सुधार कॉलर के साथ उद्देश्य। हार्डवेयर उद्योग में, बीडी ब्राइटफील्ड-डार्कफील्ड उद्देश्य अत्यधिक परावर्तक धातु वर्कपीस के लिए उपयुक्त हैं। उदाहरण के लिए, एलसीडी उद्योग में प्रवाहकीय कणों का अवलोकन और माप करते समय, धातुकर्म माइक्रोस्कोप को त्रिविम दृश्य उत्पन्न करने के लिए डीआईसी से सुसज्जित किया जा सकता है। यह प्रणाली युग्मित फिल्टर का उपयोग करके ध्रुवीकृत प्रकाश प्रौद्योगिकी को अपनाती है। द्विअपवर्तन के आधार पर, यह प्रकाश पथ की दिशा को नियंत्रित तरीके से बदलता है। ध्रुवीकरण स्वयं सीमित लाभ प्रदान करता है और डीआईसी के साथ संयुक्त होने पर सबसे अच्छा काम करता है।
आईसी घटकों और मेटलोग्राफिक अनुभागों की छोटी विशेषताओं को मापते और उनका विश्लेषण करते समय, बुद्धिमान माप सॉफ्टवेयर Iview-DIMS को अपनाया जा सकता है। यह उच्च सटीकता प्रदान करता है और मैन्युअल माप त्रुटियों को प्रभावी ढंग से कम करता है। सॉफ्टवेयर उपयोगकर्ता के अनुकूल है और बिंदुओं, रेखाओं, चापों, त्रिज्याओं, व्यासों, कोणों और अन्य ज्यामितीय आयामों के माप और विश्लेषण का समर्थन करता है। यह माप छवियां भी कैप्चर कर सकता है और कस्टम परीक्षण रिपोर्ट तैयार कर सकता है।
