यूनिवर्सल टूल माइक्रोस्कोप के लिए सामान्य माप विधियाँ क्या हैं?

यूनिवर्सल टूल माइक्रोस्कोप के लिए सामान्य माप विधियाँ क्या हैं?

1. कार्तीय निर्देशांक माप:

माप केवल तभी किया जा सकता है जब मापी गई वस्तु की कार्टेशियन समन्वय दिशा क्रॉस आकार की कार्य तालिका की गति की दिशा के अनुरूप हो। कार्टेशियन समन्वय माप का उपयोग करते समय, कार्टेशियन समन्वय मानों को क्रॉस मूविंग वर्कटेबल के आंदोलन द्वारा सीधे पढ़ा जा सकता है। बड़े उपकरण सूक्ष्मदर्शी के लिए, लक्ष्य छेद कार्टेशियन समन्वय माप पर छवि को सही माप के लिए अवलोकन आंख से जोड़ा जा सकता है। मापी गई वस्तु और क्रॉस मूविंग वर्कटेबल की कार्टेशियन समन्वय दिशा को कैलिब्रेट करते समय, बड़े टूल माइक्रोस्कोप पर स्थापित इकट्ठे घूर्णन वर्कटेबल का उपयोग करना बहुत सुविधाजनक होता है। छोटे टूल माइक्रोस्कोप के लिए, केवल घूमने वाली वर्कटेबल एक्सेसरी की आवश्यकता होती है।

2. कोण माप:

माप एक घूर्णन कार्यक्षेत्र या कोण अवलोकन लेंस का उपयोग करके किया जा सकता है। सामान्यतया, कोण अवलोकन लेंस की सटीकता बेहतर होती है।

3. ऊंचाई माप:

यद्यपि एक छोटा उपकरण माइक्रोस्कोप ऊंचाई नहीं माप सकता है, यदि एक चांदी मापने वाला उपकरण एक समर्थन स्तंभ के ऊपरी छोर पर लगाया जाता है और फिर माइक्रोस्कोप का उपयोग करके ऊपर और नीचे ले जाया जाता है, तो ऊंचाई को मापा जा सकता है। हालाँकि, फोकल गहराई, स्तंभ झुकाव और चांदी माप और ऑप्टिकल अक्ष के बीच त्रुटियों जैसे कारकों के कारण, इसे सटीक रूप से निर्धारित करना काफी मुश्किल है।

4. एपर्चर माप:

आम तौर पर, माप के लिए कोण अवलोकन लेंस का उपयोग किया जाता है, लेकिन बड़े उपकरण माइक्रोस्कोप ओवरलैपिंग छवि अवलोकन लेंस या ऑप्टिकल डिटेक्टरों का उपयोग कर सकते हैं, जो दो ओवरलैपिंग छवियों को उत्पन्न करने के लिए ओवरलैपिंग छवि लेंस का उपयोग करते हैं, और फिर विपरीत दिशा में भी ऐसा ही करते हैं। इसलिए, छेद के आंतरिक व्यास को गति की मात्रा से प्रदर्शित किया जा सकता है। यदि एक ऑप्टिकल डिटेक्टर का उपयोग किया जाता है, तो पहले इसे 3x ऑब्जेक्ट लेंस पर स्थापित करें, इसे डिटेक्टर और वर्कटेबल की गति की दिशा के साथ संरेखित करें, और फिर अवलोकन दर्पण के अंदर ओवरलैप लाइन को अवलोकन लेंस के क्रॉसहेयर के समानांतर समायोजित करें, ताकि डिटेक्टर छेद की सतह से संपर्क कर सके। *इसके बाद, ओवरलैपिंग लाइन की विपरीत गति को ठीक करने के लिए Y{{4}अक्ष पर फ़ीड का उपयोग करें, और X-}अक्ष पर मापे गए मानों को पढ़ने के लिए, ओवरलैपिंग लाइनों के बीच अवलोकन लेंस की दस उप रेखाओं को क्लैंप करने के लिए X{5}}अक्ष फ़ीड का उपयोग करें। यही बात विपरीत दिशा के छेदों पर भी लागू होती है, इसलिए जांच के व्यास में रीडिंग के अंतर को जोड़कर छेद का आंतरिक व्यास प्राप्त किया जा सकता है।