टूल माइक्रोस्कोप का उपयोग और रखरखाव

टूल माइक्रोस्कोप का उपयोग और रखरखाव

टूल माइक्रोस्कोप का निर्माण

1. छोटा उपकरण माइक्रोस्कोप.

यह एक सटीक क्रॉस मूविंग कार्यक्षेत्र और एक अवलोकन माइक्रोस्कोप से बना है। यह एक छोटे उपकरण माइक्रोस्कोप से संबंधित है और इसे आसान उपयोग के लिए डिज़ाइन किया गया है। अत: खम्भा झुकेगा नहीं तथा प्रकाश उपकरण भी साधारण प्रकार का है। हालांकि यह आसान है, विभिन्न माप कार्यों को बढ़ाने के लिए इसे कई सहायक उपकरणों के साथ जोड़ा जा सकता है।

2. बड़ा उपकरण माइक्रोस्कोप.

इसकी रोटरी वर्कटेबल असेंबल की गई है और यह एक सटीक क्रॉस आकार की मूविंग टेबल और अवलोकन माइक्रोस्कोप से भी बनी है। मर्मज्ञ प्रकाश उपकरण केन्द्रापसारक प्रकाश को अपनाते हैं, और स्तंभ और कार्य तालिका को बाएँ और दाएँ झुकाव के लिए एकीकृत किया जा सकता है, जिससे थ्रेड माप बहुत सुविधाजनक हो जाता है। नेत्र अवलोकन अनुभाग एक प्रक्षेपण उपकरण से सुसज्जित है, जिसका उपयोग प्रक्षेपित छवियों को देखने के लिए किया जा सकता है।

उपकरण सूक्ष्मदर्शी का मापन

1. कार्तीय निर्देशांक माप:

मापते समय, यह सुनिश्चित करना आवश्यक है कि मापी गई वस्तु के समकोण निर्देशांक की दिशा माप करने से पहले क्रॉस आकार के कार्यक्षेत्र की गति की दिशा के अनुरूप है। कार्टेशियन समन्वय माप का उपयोग करते समय, क्रॉस मूविंग कार्यक्षेत्र की गति राशि सीधे कार्टेशियन समन्वय मूल्य को पढ़ सकती है। यदि यह एक बड़ा उपकरण माइक्रोस्कोप है, तो लक्ष्य छेद कार्टेशियन समन्वय माप पर छवि को सटीक माप के लिए अवलोकन आंख से जोड़ा जा सकता है। हालाँकि, मापी गई वस्तु के कार्टेशियन समन्वय और क्रॉस मूविंग कार्यक्षेत्र की दिशा को कैलिब्रेट करते समय, एक बड़े उपकरण माइक्रोस्कोप पर स्थापित इकट्ठे घूर्णन कार्यक्षेत्र का उपयोग करना बहुत सुविधाजनक होता है, जहां तक ​​छोटे उपकरण माइक्रोस्कोप की बात है, उन्हें केवल एक घूर्णन तालिका अनुलग्नक की आवश्यकता होती है।

2. कोण माप:

घूर्णन कार्यक्षेत्र या कोण अवलोकन लेंस का उपयोग करके माप किया जा सकता है। सामान्यतया, कोण अवलोकन लेंस की सटीकता बेहतर होती है।

3. ऊंचाई माप:

हालाँकि एक छोटा उपकरण माइक्रोस्कोप ऊंचाई नहीं माप सकता है, लेकिन यदि मापने वाले चांदी को स्तंभ के ऊपरी सिरे पर स्थापित किया जाता है और माइक्रोस्कोप के ऊपर और नीचे की गति का उपयोग किया जाता है, तो ऊंचाई को मापा जा सकता है। हालाँकि, फोकल गहराई, स्तंभ झुकाव और चांदी की माप और ऑप्टिकल अक्ष के बीच त्रुटियों जैसे कारकों के कारण, इसे सटीक रूप से मापना काफी मुश्किल है।

4. छिद्र आकार माप:

आम तौर पर, कोण अवलोकन लेंस का उपयोग माप के लिए किया जाता है, लेकिन बड़े उपकरण माइक्रोस्कोप ओवरलैपिंग छवि अवलोकन लेंस या ऑप्टिकल डिटेक्टरों का उपयोग कर सकते हैं। इसका मतलब है कि दो उत्पन्न छवियों को ओवरलैप करने के लिए ओवरलैपिंग छवि लेंस का उपयोग करना, और फिर विपरीत दिशा में, छेद के आंतरिक व्यास को आंदोलन की मात्रा से प्रदर्शित किया जा सकता है। यदि ऑप्टिकल डिटेक्टर का उपयोग कर रहे हैं, तो पहले इसे 3x ऑब्जेक्ट लेंस पर स्थापित करें, फिर इसे डिटेक्टर और कार्यक्षेत्र की गति की दिशा के साथ संरेखित करें, और फिर अवलोकन लेंस के अंदर ओवरलैप लाइन को अवलोकन की क्रॉस लाइन के समानांतर समायोजित करें। लेंस, ताकि मापने वाला स्टेटर छेद की सतह से संपर्क करे। अंत में, ओवरलैप लाइन के रिवर्स मूवमेंट को ठीक करने के लिए Y-अक्ष पर फ़ीड का उपयोग करें, और X- पर मापे गए मानों को पढ़ने के लिए अवलोकन लेंस की दस उप रेखाओं पर ओवरलैप लाइन को क्लैंप करने के लिए X-अक्ष फ़ीड का उपयोग करें। एक्सिस। छेद का विपरीत पक्ष भी समान है, इसलिए रीडिंग और जांच के व्यास में अंतर जोड़कर छेद का आंतरिक व्यास प्राप्त किया जा सकता है।