विभिन्न उद्योगों में धातुकर्म सूक्ष्मदर्शी के अनुप्रयोग
मूल रूप से मेटलोग्राफी से प्राप्त, इसका मुख्य उद्देश्य मेटलोग्राफिक संरचनाओं के अवलोकन के लिए एक पेशेवर उपकरण के रूप में है। यह एक माइक्रोस्कोप है जिसे विशेष रूप से धातुओं और खनिजों जैसी अपारदर्शी वस्तुओं की मेटलोग्राफिक संरचनाओं का निरीक्षण करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। इन अपारदर्शी वस्तुओं को नियमित ट्रांसमिशन प्रकाश माइक्रोस्कोप में नहीं देखा जा सकता है, इसलिए सोने और नियमित माइक्रोस्कोप के बीच मुख्य अंतर यह है कि सोना परावर्तित प्रकाश से प्रकाशित होता है, जबकि सोना प्रसारित प्रकाश से प्रकाशित होता है।
मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में अच्छी स्थिरता, स्पष्ट इमेजिंग, उच्च रिज़ॉल्यूशन और देखने का एक बड़ा और सपाट क्षेत्र की विशेषताएं हैं। यह न केवल ऐपिस पर सूक्ष्म अवलोकन कर सकता है, बल्कि कंप्यूटर (डिजिटल कैमरा) डिस्प्ले स्क्रीन पर वास्तविक समय की गतिशील छवियों का भी निरीक्षण कर सकता है, और आवश्यक छवियों को संपादित, सहेज और प्रिंट कर सकता है। इसका उपयोग मुख्य रूप से हार्डवेयर, स्लाइसिंग, आईसी घटकों, एलसीडी/एलईडी और अन्य क्षेत्रों में किया जाता है।
क्योंकि मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप लेंस पांच प्रकार के होते हैं: ईपीआई उज्ज्वल क्षेत्र प्रतिदीप्ति; बीडी उज्ज्वल और अंधेरा क्षेत्र; एसएलडब्ल्यूडी अल्ट्रा लंबी कार्य दूरी; ईएलडब्ल्यूडी कार्य दूरी को मजबूत करता है; सुधार रिंग से सुसज्जित। हार्डवेयर उद्योग में, गंभीर प्रतिबिंब वाले कुछ हार्डवेयर घटकों को उज्ज्वल और अंधेरे क्षेत्रों के साथ बीडी लेंस का उपयोग करके देखा जा सकता है। उदाहरण के लिए, एलसीडी उद्योग में, प्रवाहकीय कणों का अवलोकन और माप करते समय, वस्तु को अधिक त्रि-आयामी दिखने के लिए मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप को डीआईसी के साथ भी जोड़ा जा सकता है। क्योंकि यह ध्रुवीकृत है, एक सूक्ष्म अवलोकन तकनीक जो ध्रुवीकृत प्रकाश बनाने के लिए रंग फिल्टर के दो सेट का उपयोग करती है। इसके द्विअपवर्तन गुणों के आधार पर, ऑप्टिकल पथ की दिशा को बदला जा सकता है। बेशक, ध्रुवीकृत प्रकाश का उपयोग केवल डीआईसी के साथ संयोजन में किया जा सकता है और इसका अपने आप में बहुत कम महत्व है। मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप का उपयोग आईसी घटकों और मेटलोग्राफिक अनुभागों जैसे छोटे आयामों को मापने और उनका विश्लेषण करने के लिए किया जाता है। इसे बुद्धिमान सॉफ़्टवेयर Iview SIMS का उपयोग करके मापा जा सकता है, जिसमें उच्च सटीकता है और मानव माप त्रुटियों को प्रभावी ढंग से कम करता है। सीखना और उपयोग करना आसान है, यह बिंदुओं, रेखाओं, चापों, अर्ध मेरिडियन, सीधे मेरिडियन, कोण इत्यादि जैसे प्रासंगिक आयामों को आसानी से माप और विश्लेषण कर सकता है, आसानी से माप चित्र ले सकता है और विभिन्न परीक्षण रिपोर्ट को अनुकूलित कर सकता है
