कन्फोकल माइक्रोमेट्री के सिद्धांत और तरीके
कन्फोकल माइक्रोस्कोपी लेजर कन्फोकल स्कैनिंग माइक्रोस्कोप LCSM का संक्षिप्त नाम है, जो मुख्य रूप से 3D कैप्चर इमेजिंग तकनीकों का उपयोग करके सूक्ष्म रूप से छवि बनाता है, जिससे इसे उच्च 3D छवि रिज़ॉल्यूशन मिलता है। इन्हें माइक्रोग्राफ़ बनाकर हासिल किया जाता है।
कॉन्फोकल माइक्रोस्कोप इमेजिंग के सिद्धांत
कन्फोकल माइक्रोस्कोप डिवाइस में मापी जाने वाली वस्तु के फोकल प्लेन की संयुग्म सतह पर दो छोटे छेद रखे जाते हैं, जिनमें से एक को प्रकाश स्रोत के सामने और दूसरे को डिटेक्टर के सामने रखा जाता है, प्राप्त छवि एक फोकल प्लेन से प्रकाश होती है जिसे पिनहोल डिजिटल कैमरे के माध्यम से फोकस करके कैप्चर किया जाता है, और जमा हुए विभिन्न फोकल प्लेन की छवियों के अनुक्रम के माध्यम से, एक पूर्ण 3 डी छवि को सॉफ्टवेयर का उपयोग करके संकलित किया जाता है।
कन्फोकल माइक्रोस्कोप सिस्टम पारंपरिक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप की तुलना में उच्च विवरण के साथ आवर्धित छवियां प्रस्तुत करता है। समान उद्देश्य आवर्धन पर, कन्फोकल माइक्रोस्कोप तेज और महीन रूपात्मक विवरण और उच्च पार्श्व संकल्प के साथ छवियां प्रस्तुत करता है। माइक्रो-नैनो का पता लगाने के लिए एक उपकरण के रूप में, कन्फोकल माइक्रोस्कोपी कई मायनों में सफेद प्रकाश इंटरफेरोमेट्री से अलग है। यदि आप इसका वर्णन करने के लिए एक शब्द का उपयोग करते हैं, तो सफेद प्रकाश इंटरफेरोमेट्री एक "साहित्यिक" है, जबकि कन्फोकल माइक्रोस्कोपी एक "मार्शल" है। सफेद प्रकाश उप-नैनोमीटर अल्ट्रा-चिकनी सतह का पता लगाने में अच्छा है, पता लगाने के मूल्य सटीकता की खोज; जबकि कन्फोकल माइक्रो-नैनोमीटर रफ कंटूर डिटेक्शन में अच्छा है, हालांकि रिज़ॉल्यूशन का पता लगाने में थोड़ा कम है, लेकिन आसान अवलोकन के लिए रंगीन सच्चे रंग की छवियां प्रदान कर सकता है।
सिद्धांत रूप में कन्फोकल प्रौद्योगिकी के लिए कन्फोकल माइक्रोस्कोप, परिशुद्धता जेड स्कैनिंग मॉड्यूल, 3 डी मॉडलिंग एल्गोरिदम, आदि के साथ संयुक्त, वस्तु की सतह की चिकनी से खुरदरी, कम परावर्तकता से उच्च परावर्तकता सहित सभी प्रकार को माप सकता है, नैनो से माइक्रोन स्तर के वर्कपीस खुरदरापन, सपाटपन, माइक्रो-ज्यामितीय आकृति, वक्रता और विभिन्न उत्पादों, घटकों और सामग्रियों की सतह की आकृति, सतह के दोष, पहनने और आंसू, संक्षारण की स्थिति, सपाटता, खुरदरापन, नाली, छिद्र निकासी, कदम ऊंचाई, झुकने विरूपण, मशीनिंग और अन्य सतह सुविधाओं जैसे सतह सुविधाओं का मापन और विश्लेषण।
