लेजर कन्फोकल माइक्रोस्कोप और स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप के बीच अंतर

लेजर कन्फोकल माइक्रोस्कोप और स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप के बीच अंतर

लेजर कन्फोकल माइक्रोस्कोप और स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप दोनों बिंदु दर बिंदु इमेजिंग को स्कैन करने के लिए बिंदु स्रोत का उपयोग करते हैं, और स्कैनिंग ड्राइव रेंज को नियंत्रित करके आवर्धन को समायोजित करते हैं। लेज़र कन्फोकल माइक्रोस्कोप लेज़र स्कैनिंग के माध्यम से काम करता है और तीन आयामी छवियां प्राप्त कर सकता है। स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी एक बारीक केंद्रित इलेक्ट्रॉन किरण द्वारा उत्तेजित विभिन्न भौतिक संकेतों का उपयोग करके इमेजिंग को नियंत्रित करती है

किसी नमूने की सतह को स्कैन करने पर, केवल दो{0}आयामी छवियाँ प्राप्त की जा सकती हैं, तीन-आयामी छवियां नहीं।

1. विभिन्न चरम रिज़ॉल्यूशन (प्रवर्धित सिग्नल स्रोत भिन्न होते हैं)
लेज़र कॉन्फ़ोकल: अधिकतम रिज़ॉल्यूशन 150nm
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप: 20nm~0.8nm

2. विभिन्न स्कैनिंग ड्राइविंग विधियाँ
लेजर कन्फोकल: लेजर मिरर लेजर स्कैनिंग रेंज और स्कैनिंग गति को नियंत्रित करता है
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप: इलेक्ट्रोमैग्नेटिक कॉइल इलेक्ट्रॉन बीम की स्कैनिंग रेंज और गति को नियंत्रित करता है

3. विभिन्न त्रिविम इमेजिंग
लेज़र कॉन्फ़ोकल: नमूना एक नैनो प्रिसिजन स्टेपर मोटर द्वारा Z-अक्ष दिशा में परत दर परत छवि छवि तक संचालित होता है, और सॉफ़्टवेयर प्रत्येक परत की सेट छवियों को एक स्पष्ट तीन{1}}आयामी छवि में संश्लेषित करता है
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी: एकल फ़्रेम छवियों में फ़ील्ड की बड़ी गहराई होती है और वे दो -आयामी छवियों से संबंधित होती हैं

4. विभिन्न अनुप्रयोग क्षेत्र
लेजर कन्फोकल: कई बार से कई हजार बार तक
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप: कई बार से कई लाख बार तक

5. विभिन्न कार्य वातावरण
लेजर कन्फोकल: वायुमंडलीय वातावरण में नमूनों का परीक्षण कर सकता है
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप: उच्च वैक्यूम वातावरण में नमूनों का परीक्षण