कन्फोकल माइक्रोस्कोप और प्रतिदीप्ति माइक्रोस्कोप के बीच अंतर
प्रतिदीप्ति माइक्रोस्कोपी का उपयोग मुख्य रूप से जीव विज्ञान और चिकित्सा अनुसंधान के क्षेत्र में किया जाता है, जो कोशिकाओं या ऊतकों की आंतरिक सूक्ष्म संरचना की फ्लोरोसेंट छवियां प्राप्त कर सकता है। यह शारीरिक संकेतों जैसे Ca2+, pH मान, झिल्ली क्षमता, और उपकोशिकीय स्तर पर कोशिका आकृति विज्ञान में परिवर्तन का निरीक्षण कर सकता है। यह आकृति विज्ञान, आणविक जीव विज्ञान, तंत्रिका विज्ञान, औषध विज्ञान, आनुवंशिकी और अन्य क्षेत्रों में एक शक्तिशाली अनुसंधान उपकरण है।
कन्फोकल तकनीक पर आधारित कन्फोकल माइक्रोस्कोप एक पहचान उपकरण है जिसका उपयोग विभिन्न सटीक उपकरणों और सामग्री सतहों के सूक्ष्म नैनो स्तर माप के लिए किया जाता है।
VT6000 लेजर कन्फोकल स्कैनिंग माइक्रोस्कोप
सामग्री विज्ञान का लक्ष्य सामग्री की सतह संरचना के सतह गुणों पर प्रभाव का अध्ययन करना है। इसलिए, सतह की खुरदरापन, परावर्तक विशेषताओं, जनजातीय गुणों और सतह की गुणवत्ता जैसे प्रासंगिक मापदंडों को निर्धारित करने के लिए सतह आकृति विज्ञान का उच्च-रिज़ॉल्यूशन विश्लेषण बहुत महत्वपूर्ण है। कन्फोकल तकनीक सामग्रियों की विभिन्न सतह प्रतिबिंब विशेषताओं को माप सकती है और प्रभावी माप डेटा प्राप्त कर सकती है।
VT6000 लेजर कन्फोकल स्कैनिंग माइक्रोस्कोप कन्फोकल माइक्रोस्कोपी तकनीक पर आधारित है, जो सटीक जेड-दिशा स्कैनिंग मॉड्यूल, 3 डी मॉडलिंग एल्गोरिदम इत्यादि के साथ संयुक्त है। यह डिवाइस सतहों की गैर-संपर्क स्कैनिंग कर सकता है और सतह 3 डी छवियों को स्थापित कर सकता है, जिससे डिवाइस सतह आकृति विज्ञान की 3 डी माप प्राप्त हो सकती है। सामग्री उत्पादन परीक्षण के क्षेत्र में, विभिन्न उत्पादों, घटकों और सामग्रियों की सतह आकृति विज्ञान विशेषताओं को मापना और उनका विश्लेषण करना संभव है, जैसे सतह समोच्च, सतह दोष, घिसाव, संक्षारण, समतलता, खुरदरापन, लहरदारपन, छिद्र अंतराल, चरण की ऊंचाई, झुकने की विकृति और प्रसंस्करण की स्थिति।
झोंगटू इंस्ट्रूमेंट से VT6000 कन्फोकल माइक्रोस्कोप आधिकारिक तौर पर लॉन्च किया गया है! 3डी माप छवियों में स्पष्ट रूपात्मक विवरण होते हैं!
आवेदन
1.एमईएमएस
माइक्रोमीटर और सबमाइक्रोन स्तर के घटकों के आयामों का मापन, विभिन्न प्रक्रियाओं (विकास, नक़्क़ाशी, धातुकरण, सीवीडी, पीवीडी, सीएमपी, आदि) के बाद सतह आकृति विज्ञान का अवलोकन, और दोषों का विश्लेषण।
2. सटीक यांत्रिक घटक, इलेक्ट्रॉनिक उपकरण
माइक्रोमीटर और सबमाइक्रोन स्तर के घटकों के आयामों का मापन, विभिन्न सतह उपचार प्रक्रियाओं और वेल्डिंग प्रक्रियाओं के बाद सतह आकृति विज्ञान का अवलोकन, दोष विश्लेषण और कण विश्लेषण।
3. सेमीकंडक्टर/एलसीडी
विभिन्न प्रक्रियाओं (विकास, नक़्क़ाशी, धातुकरण, सीवीडी, पीवीडी, सीएमपी, आदि) के बाद सतह आकृति विज्ञान का अवलोकन, दोष विश्लेषण, गैर-संपर्क लाइन चौड़ाई का माप, चरण गहराई, आदि।
4. घर्षण, संक्षारण और अन्य सतह इंजीनियरिंग
सब माइक्रोन सतह इंजीनियरिंग के बाद घर्षण के निशानों का आयतन माप, खुरदरापन माप, सतह आकृति विज्ञान, संक्षारण और सतह आकृति विज्ञान।
