ईमानदार और उल्टे माइक्रोस्कोप के बीच चयन करना
मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप, जिन्हें सामग्री माइक्रोस्कोप के रूप में भी जाना जाता है, का उपयोग मुख्य रूप से धातुओं की सूक्ष्म संरचना का निरीक्षण करने के लिए किया जाता है। उन्हें सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप और उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में वर्गीकृत किया गया है।
सीधा मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप अवलोकन के दौरान एक सीधी छवि बनाता है, जो उपयोगकर्ताओं को नमूनों को देखने और पहचानने में बहुत सुविधा प्रदान करता है। यह 20-30 मिमी की ऊंचाई वाले धातु के नमूनों का विश्लेषण और पहचान कर सकता है। लोगों की दैनिक देखने की आदतों के अनुरूप, इसे व्यापक रूप से पारदर्शी, पारभासी और अपारदर्शी पदार्थों पर लागू किया जाता है। यह 3 माइक्रोमीटर से अधिक से लेकर 20 माइक्रोमीटर से कम के अवलोकन लक्ष्यों के लिए उत्कृष्ट इमेजिंग परिणाम प्रदान करता है, जैसे सतह संरचनाएं और धातु सिरेमिक, इलेक्ट्रॉनिक चिप्स, मुद्रित सर्किट, एलसीडी सब्सट्रेट, पतली फिल्में, फाइबर, दानेदार सामग्री और कोटिंग्स के निशान। इसके अलावा, बाहरी कैमरा सिस्टम को वास्तविक समय और स्थिर छवि देखने, भंडारण, संपादन और मुद्रण के लिए डिस्प्ले स्क्रीन और कंप्यूटर से आसानी से जोड़ा जा सकता है। विभिन्न सॉफ्टवेयर के साथ मिलकर, यह पेशेवर मेटलोग्राफी, माप और इंटरैक्टिव शिक्षण की मांगों को पूरा कर सकता है।
उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप विभिन्न धातुओं और मिश्र धातुओं की सूक्ष्म संरचना की पहचान और विश्लेषण करने के लिए ऑप्टिकल प्लेन इमेजिंग को अपनाता है। यह धातु भौतिकी में मेटलोग्राफिक अनुसंधान के लिए एक महत्वपूर्ण उपकरण है। कारखानों और प्रयोगशालाओं में व्यापक रूप से उपयोग किया जाता है, यह कास्टिंग गुणवत्ता निरीक्षण, कच्चे माल का परीक्षण, और प्रक्रिया उपचार के बाद सामग्री की मेटलोग्राफिक संरचनाओं का अनुसंधान और विश्लेषण करता है, सहज विश्लेषण परिणाम प्रदान करता है। यह खनन, धातुकर्म, विनिर्माण और यांत्रिक प्रसंस्करण उद्योगों में कास्टिंग, गलाने और गर्मी उपचार की गुणवत्ता की पहचान और विश्लेषण के लिए महत्वपूर्ण उपकरण है।
हाल के वर्षों में, माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक उद्योग को चिप उत्पादन का समर्थन करने के लिए उच्च-आवर्धन समतल सूक्ष्म तकनीक की आवश्यकता होती है। इसलिए, विशेष औद्योगिक आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए निरंतर सुधार के साथ, इस क्षेत्र में मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप पेश किए गए और लोकप्रिय बनाए गए हैं।
उल्टे मेटलोग्राफिक सूक्ष्मदर्शी के लिए, नमूने की अवलोकन सतह नीचे की ओर होती है और कार्य तालिका की सतह के साथ फिट बैठती है। ऑब्जेक्टिव लेंस वर्कटेबल के नीचे लगा होता है और ऊपर की ओर देखता है। यह अवलोकन मोड नमूना ऊंचाई तक सीमित नहीं है। उपकरण कॉम्पैक्ट और सुरुचिपूर्ण उपस्थिति के साथ संचालित करना आसान है। इसमें स्थिर और विश्वसनीय संचालन के लिए एक बड़ा आधार असर क्षेत्र और गुरुत्वाकर्षण का निम्न केंद्र शामिल है। आरामदायक अवलोकन प्रदान करने के लिए ऐपिस असर सतह के सापेक्ष 45 डिग्री पर झुकती है।
