उद्योगों में मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप का अनुप्रयोग
मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप की उत्पत्ति मेटलोग्राफी से हुई है। वे पेशेवर उपकरण हैं जिनका उपयोग मुख्य रूप से मेटलोग्राफिक संरचनाओं के अवलोकन के लिए किया जाता है, विशेष रूप से धातुओं और खनिजों जैसी अपारदर्शी वस्तुओं की मेटलोग्राफिक माइक्रोस्ट्रक्चर की जांच के लिए। इन अपारदर्शी नमूनों को साधारण ट्रांसमिशन प्रकाश सूक्ष्मदर्शी से नहीं देखा जा सकता है। इसलिए, मेटलोग्राफिक सूक्ष्मदर्शी और साधारण सूक्ष्मदर्शी के बीच प्राथमिक अंतर यह है कि पूर्व परावर्तित प्रकाश रोशनी का उपयोग करता है जबकि बाद वाला संचरित प्रकाश पर निर्भर करता है।
मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में उत्कृष्ट स्थिरता, तेज इमेजिंग, उच्च रिज़ॉल्यूशन और देखने का एक बड़ा सपाट क्षेत्र होता है। अवलोकन न केवल ऐपिस के माध्यम से किया जा सकता है, बल्कि कंप्यूटर या डिजिटल कैमरे की स्क्रीन पर वास्तविक समय की गतिशील छवियों के रूप में भी किया जा सकता है। कैप्चर की गई छवियों को संपादित, सहेजा और मुद्रित किया जा सकता है। इन्हें हार्डवेयर, मेटलोग्राफिक सेक्शनिंग, आईसी घटकों, एलसीडी, एलईडी और अन्य क्षेत्रों में व्यापक रूप से लागू किया जाता है।
मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के लिए ऑब्जेक्टिव लेंस पांच प्रकार के होते हैं: ईपीआई ब्राइट-फील्ड प्रतिदीप्ति उद्देश्य, बीडी ब्राइट/डार्क-फील्ड उद्देश्य, एसएलडब्ल्यूडी सुपर लंबी कार्य दूरी उद्देश्य, ईएलडब्ल्यूडी विस्तारित लंबी कार्य दूरी उद्देश्य, और सुधार रिंग के साथ उद्देश्य। हार्डवेयर उद्योग में, अत्यधिक परावर्तक हार्डवेयर भागों के अवलोकन के लिए बीडी ब्राइट/डार्क-फ़ील्ड उद्देश्यों का चयन किया जा सकता है। उदाहरण के लिए, एलसीडी उद्योग में प्रवाहकीय कणों का अवलोकन और माप करते समय, मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप को अधिक त्रिविम दृश्य प्राप्त करने के लिए डीआईसी से सुसज्जित किया जा सकता है। यह युग्मित फिल्टर का उपयोग करके एक ध्रुवीकृत-प्रकाश माइक्रोस्कोपी तकनीक है। यह द्विअपवर्तन गुणों के अनुसार प्रकाश पथ को पुनर्निर्देशित करता है। ध्यान दें कि ध्रुवीकृत प्रकाश आमतौर पर केवल डीआईसी के साथ संयुक्त होने पर ही कार्यात्मक होता है और अकेले उपयोग किए जाने पर इसका सीमित मूल्य होता है।
जब मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप का उपयोग आईसी घटकों और मेटलोग्राफिक अनुभागों पर छोटी विशेषताओं के माप और विश्लेषण के लिए किया जाता है, तो बुद्धिमान माप सॉफ्टवेयर Iview‑DIMS को अपनाया जा सकता है। यह उच्च परिशुद्धता प्रदान करता है और मैन्युअल माप त्रुटियों को प्रभावी ढंग से कम करता है। सॉफ्टवेयर उपयोगकर्ता के अनुकूल है और बिंदुओं, रेखाओं, चापों, त्रिज्याओं, व्यासों, कोणों और अन्य ज्यामितीय आयामों के माप और विश्लेषण का समर्थन करता है। यह माप छवियों को भी कैप्चर कर सकता है और अनुकूलित परीक्षण रिपोर्ट तैयार कर सकता है।
