उल्टे और सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के बीच उपयोग अंतर
उलटा मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप मुख्य रूप से गर्मी उपचार के बाद विभिन्न धातुओं और मिश्र धातु सामग्री की सूक्ष्म संरचना, कास्टिंग गुणवत्ता और चरण संरचना का अध्ययन और विश्लेषण करने के लिए उपयुक्त है। यह धातुकर्म अनुसंधान के लिए एक आवश्यक उपकरण है। इस तथ्य के कारण कि नमूने की अवलोकन सतह ऊंचाई तक सीमित नहीं है, नमूना तैयार करते समय केवल एक अवलोकन सतह को समतल होना आवश्यक है। इसलिए, इसका व्यापक रूप से शिक्षण के लिए कारखाने की प्रयोगशालाओं, वैज्ञानिक अनुसंधान संस्थानों और विश्वविद्यालयों में उपयोग किया जाता है। अन्य उद्योग जैसे इलेक्ट्रॉनिक्स, पतली फिल्म और कोटिंग्स नमूने बनाने के लिए ठंडी जड़ित सामग्री का उपयोग करते हैं, जो सामग्री की पारदर्शिता के कारण आसान अवलोकन के लिए सीधे कार्यक्षेत्र पर उलटे होते हैं। कैमरे को वास्तविक समय और गतिशील छवि अवलोकन, बचत और संपादन, मुद्रण के लिए वीडियो स्क्रीन और कंप्यूटर से आसानी से जोड़ा जा सकता है, और अधिक पेशेवर मेटलोग्राफिक माप के लिए विभिन्न सॉफ़्टवेयर के साथ जोड़ा जा सकता है।
सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के समान ही बुनियादी कार्य होते हैं। 20{6}}30 मिमी की ऊंचाई वाले धातु के नमूनों का विश्लेषण और पहचान करने के अलावा, मानव दैनिक आदतों के अनुरूप होने के कारण इसका उपयोग पारदर्शी, अर्ध पारदर्शी या अपारदर्शी पदार्थों के लिए अधिक व्यापक रूप से किया जाता है। 3 माइक्रोन से बड़े लेकिन 20 माइक्रोन से छोटे लक्ष्य, जैसे धातु सिरेमिक, इलेक्ट्रॉनिक चिप्स, मुद्रित सर्किट, एलसीडी सब्सट्रेट, फिल्म, फाइबर, दानेदार वस्तुएं, कोटिंग्स और अन्य सामग्रियों का अवलोकन, उनकी सतह संरचनाओं और निशानों के लिए अच्छे इमेजिंग प्रभाव प्राप्त कर सकते हैं। कैमरा सिस्टम वास्तविक समय और गतिशील छवि अवलोकन, बचत, संपादन, मुद्रण के लिए वीडियो स्क्रीन और कंप्यूटर से आसानी से जुड़ सकता है, और विभिन्न सॉफ्टवेयर अधिक पेशेवर मेटलोग्राफिक माप और इंटरैक्टिव शिक्षण की जरूरतों को पूरा कर सकते हैं।
