इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप का रिज़ोल्यूशन ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप से अधिक क्यों होता है?
क्योंकि इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी इलेक्ट्रॉन किरण का प्रयोग करते हैं और प्रकाशीय सूक्ष्मदर्शी दृश्य प्रकाश का प्रयोग करते हैं, तथा इलेक्ट्रॉन किरण की तरंगदैर्घ्य दृश्य प्रकाश की तरंगदैर्घ्य से कम होती है, इसलिए इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी का रिज़ोल्यूशन प्रकाशीय सूक्ष्मदर्शी की तुलना में बहुत अधिक होता है।
सूक्ष्मदर्शी का विभेदन, नमूने से गुजरने वाली इलेक्ट्रॉन किरण के आपतन कोण तथा तरंगदैर्घ्य से संबंधित होता है।
दृश्य प्रकाश की तरंगदैर्घ्य लगभग {{0}} नैनोमीटर होती है, जबकि इलेक्ट्रॉन बीम की तरंगदैर्घ्य त्वरित वोल्टेज से संबंधित होती है। तरंग-कण द्वैत के सिद्धांत के अनुसार, उच्च गति वाले इलेक्ट्रॉनों की तरंगदैर्घ्य दृश्य प्रकाश की तुलना में कम होती है, और माइक्रोस्कोप का रिज़ॉल्यूशन उसके द्वारा उपयोग की जाने वाली तरंगदैर्घ्य द्वारा सीमित होता है, इसलिए इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप (0.2 नैनोमीटर) का रिज़ॉल्यूशन ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप (200 नैनोमीटर) की तुलना में बहुत अधिक होता है।
इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी प्रौद्योगिकी का अनुप्रयोग ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप पर आधारित है, जिसका रिज़ॉल्यूशन {{0}}.2 माइक्रोन है, और ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप, जिसका रिज़ॉल्यूशन 0.2 एनएम है, यानी, ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के आधार पर 1,000 के कारक से बड़ा होता है।
यद्यपि इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप का रिज़ोल्यूशन ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप की तुलना में बहुत अधिक है, फिर भी इसमें कुछ नुकसान हैं:
1, इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप में नमूनों को वैक्यूम में देखा जाना चाहिए, इसलिए जीवित नमूनों का निरीक्षण करना संभव नहीं है। प्रौद्योगिकी की प्रगति के साथ, पर्यावरण स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप धीरे-धीरे सीधे जीवित नमूनों के अवलोकन का एहसास करेगा;
2, नमूने के प्रसंस्करण में ऐसी संरचना उत्पन्न हो सकती है जो मूल रूप से नमूने में मौजूद नहीं थी, जो उसके बाद छवि का विश्लेषण करने की कठिनाई को बढ़ा देती है;
3, अत्यंत मजबूत इलेक्ट्रॉन बिखरने की क्षमता के कारण, माध्यमिक विवर्तन और इतने पर प्रवण;
4, त्रि-आयामी वस्तुओं की द्वि-आयामी समतल प्रक्षेपण छवि के कारण, कभी-कभी छवि अद्वितीय नहीं होती है;
5, क्योंकि ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप केवल बहुत पतले नमूनों का निरीक्षण कर सकता है, और यह संभव है कि सामग्री की सतह की संरचना सामग्री की आंतरिक संरचना से अलग हो;
6, अति पतले नमूने (100 नैनोमीटर से नीचे), नमूना तैयार करने की प्रक्रिया जटिल और कठिन है, और नमूना तैयार करने में नुकसान होता है;
7, इलेक्ट्रॉन बीम टकराव और हीटिंग द्वारा नमूने को नुकसान पहुंचा सकता है;
8, इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप की खरीद और रखरखाव की कीमत अपेक्षाकृत अधिक है।
