हमें लेंस रहित होलोग्राफिक माइक्रोस्कोप का उपयोग करने की आवश्यकता क्यों है?
पारंपरिक सूक्ष्मदर्शी केवल जैविक नमूनों का अवलोकन करते समय तीव्रता वितरण का निरीक्षण कर सकते हैं। अपनी प्राकृतिक अवस्था में, कोशिकाएं आमतौर पर रंगहीन और पारदर्शी अवस्था में होती हैं, जिसके लिए यांत्रिक फोकसिंग के माध्यम से मैन्युअल धुंधलापन और इमेजिंग की आवश्यकता होती है, जिसके परिणामस्वरूप वास्तविक समय में प्रदर्शन खराब होता है। इसके अलावा, सूक्ष्मदर्शी की आंतरिक ऑप्टिकल संरचना जटिल है, और कुछ निर्माता प्रणालियाँ महंगी हैं, जो व्यावसायीकरण के लिए अनुकूल नहीं है।
पारंपरिक समाधान वाली समस्याएं
1. धीमी इमेजिंग गति: इमेजिंग के लिए पारंपरिक माइक्रोस्कोपी का उपयोग करते समय, छवि विमान को खोजने के लिए मैन्युअल या स्वचालित फोकसिंग की आवश्यकता होती है, जो जैविक नमूनों की वास्तविक समय की निगरानी के लिए अनुकूल नहीं है।
2. महंगी कीमत: पारंपरिक सूक्ष्मदर्शी में जटिल ऑप्टिकल पथ संरचनाएं होती हैं, और कुछ सूक्ष्मदर्शी महंगे होते हैं, जो अविकसित क्षेत्रों में बाजार की मांग को पूरा नहीं कर सकते हैं।
3. संभावित कोशिका क्षति: पारंपरिक प्रतिदीप्ति माइक्रोस्कोपी में जैविक नमूनों का अवलोकन करते समय इमेजिंग गुणवत्ता में सुधार करने के लिए कोशिकाओं को पहले से ही धुंधला करने की आवश्यकता होती है, जिससे कोशिका गतिविधि कम हो जाएगी और कोशिका क्षति हो जाएगी।
जीवित जैविक नमूनों की वास्तविक समय का पता लगाने की प्रक्रिया में, एक लेंस रहित होलोग्राफिक माइक्रोस्कोप का उपयोग जैविक नमूनों (जैसे धुंधलापन) के पूर्व-प्रसंस्करण की आवश्यकता के बिना वास्तविक समय त्रि-आयामी इमेजिंग प्राप्त करने के लिए किया जा सकता है। लेंस रहित होलोग्राफिक माइक्रोस्कोप की पुनर्निर्मित छवि को कम्प्यूटेशनल इमेजिंग एल्गोरिदम का उपयोग करके पुनर्निर्मित किया जा सकता है, जो उपयोगकर्ता की जरूरतों को पूरा करते हुए एक साथ देखने के कोण और उच्च रिज़ॉल्यूशन के एक बड़े क्षेत्र को प्राप्त कर सकता है।
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी की विशेषताएं
ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी और ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी की तुलना में, स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी में निम्नलिखित विशेषताएं हैं:
(1) नमूने की सतह संरचना को सीधे देखा जा सकता है, और नमूने का आकार 120 मिमी x 80 मिमी x 50 मिमी जितना बड़ा हो सकता है।
(2) नमूना तैयार करने की प्रक्रिया सरल है और इसे पतले स्लाइस में काटने की आवश्यकता नहीं है।
(3) नमूने को नमूना कक्ष में तीन आयामों में अनुवादित और घुमाया जा सकता है, इसलिए इसे विभिन्न कोणों से देखा जा सकता है।
(4) क्षेत्र की गहराई बड़ी है, और छवि त्रि-आयामी अर्थ में समृद्ध है। स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी के क्षेत्र की गहराई ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी की तुलना में कई सौ गुना बड़ी है और ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी की तुलना में कई दस गुना बड़ी है।
(5) छवि की आवर्धन सीमा विस्तृत है, और रिज़ॉल्यूशन भी अपेक्षाकृत अधिक है। इसे दसियों से सैकड़ों हजारों गुना तक बढ़ाया जा सकता है, और मूल रूप से इसमें एक आवर्धक ग्लास, ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप से ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप तक की आवर्धन सीमा शामिल है। रिज़ॉल्यूशन ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी और ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी के बीच है, जो 3nm तक पहुंचता है।
(6) इलेक्ट्रॉन किरण द्वारा नमूने की क्षति और संदूषण अपेक्षाकृत कम है। (7) आकृति विज्ञान का अवलोकन करते समय, नमूने से उत्सर्जित अन्य संकेतों का उपयोग सूक्ष्म क्षेत्र संरचना विश्लेषण के लिए भी किया जा सकता है।
