उपकरण सूक्ष्मदर्शी के लिए सामान्य माप विधि क्या है?
1. कार्तीय निर्देशांक माप:
मापते समय, मापी जाने वाली वस्तु की आयताकार निर्देशांक दिशा क्रॉस-आकार की तालिका की गति की दिशा के अनुरूप होनी चाहिए, उसके बाद ही माप किया जा सकता है। कार्टेशियन निर्देशांक माप का उपयोग करते समय, कार्टेशियन निर्देशांक मान को क्रॉस मूविंग टेबल की गति राशि से सीधे पढ़ा जा सकता है। यदि यह एक बड़ा टूल माइक्रोस्कोप है, तो लक्ष्य छेद पर छवि कार्टेशियन निर्देशांक माप का उपयोग अवलोकन आंख को सही ढंग से मापने के लिए जोड़ने के लिए किया जा सकता है, और वस्तु के सही कोण को मापते समय निर्देशांक दिशा और क्रॉस मूविंग टेबल को सही करते समय, बड़े टूल माइक्रोस्कोप पर स्थापित असेंबल रोटरी टेबल का उपयोग करना बहुत सुविधाजनक है। छोटे टूल माइक्रोस्कोप के लिए, केवल रोटरी टेबल जुड़ी हुई है।
2. कोण माप:
इसे एक घूर्णन तालिका या कोण अवलोकन लेंस का उपयोग करके मापा जा सकता है। आम तौर पर, कोण अवलोकन लेंस की सटीकता बेहतर होती है।
3. ऊंचाई माप:
यद्यपि एक छोटा उपकरण माइक्रोस्कोप ऊंचाई को माप नहीं सकता है, यदि एक मापक यंत्र को समर्थन के ऊपरी छोर पर जोड़ा जाता है और माइक्रोस्कोप को ऊपर और नीचे ले जाकर ऊंचाई को मापा जाता है। हालांकि, फोकस की गहराई, समर्थन के झुकाव और गेज और ऑप्टिकल अक्ष के बीच की त्रुटियों के कारण सटीक रूप से मापना बहुत मुश्किल है।
4. छिद्र व्यास माप:
आम तौर पर, माप के लिए एक कोण अवलोकन लेंस का उपयोग किया जाता है, लेकिन बड़े उपकरण माइक्रोस्कोप के लिए, एक सुपरइम्पोज़्ड इमेज अवलोकन लेंस या एक ऑप्टिकल डिटेक्टर का उपयोग किया जा सकता है। यही है, एक सुपरइम्पोज़्ड इमेज लेंस का उपयोग दो उत्पन्न छवियों को ओवरलैप करने के लिए किया जाता है, और फिर विपरीत दिशा में भी यही सच है। इसलिए, आंदोलन की मात्रा छेद के आंतरिक व्यास को प्रदर्शित करती है। यदि एक ऑप्टिकल डिटेक्टर का उपयोग किया जाता है, तो पहले इसे 3x ऑब्जेक्ट लेंस पर स्थापित करें, फिर डिटेक्टर और कार्यक्षेत्र की चलती दिशा को संरेखित करें, और फिर अवलोकन दर्पण में ओवरलैपिंग लाइन को अवलोकन लेंस के क्रॉसहेयर के समानांतर होने के लिए समायोजित करें। मापने वाले तत्व को छेद की सतह के संपर्क में लाया जाता है। अंत में, ओवरलैपिंग लाइन के रिवर्स मूवमेंट को सही करने के लिए Y-अक्ष पर फीड का उपयोग किया जाता है, और एक्स-अक्ष पर फीड का उपयोग ओवरलैपिंग लाइन को अवलोकन लेंस की दस उप-लाइनों को क्लैंप करने के लिए किया जाता है, ताकि एक्स-अक्ष पर मापा गया मान पढ़ा जा सके। विपरीत दिशा के छेद के लिए भी यही सच है, इसलिए रीडिंग और डिटेक्टर के व्यास के बीच के अंतर का उपयोग छेद के आंतरिक व्यास को प्राप्त करने के लिए किया जा सकता है।
