कन्फोकल माइक्रोस्कोपी क्या है?
कन्फोकल माइक्रोस्कोपी एक ऑप्टिकल इमेजिंग तकनीक है, जो डिफोकस प्रकाश को अवरुद्ध करने के लिए स्थानिक पिनहोल का उपयोग करके सूक्ष्म छवियों के ऑप्टिकल रिज़ॉल्यूशन और कंट्रास्ट में सुधार कर सकती है। छवि निर्माण में. नमूने में विभिन्न गहराई पर कई द्वि-आयामी छवियों को कैप्चर करने से त्रि-आयामी संरचना का पुनर्निर्माण किया जा सकता है (इस प्रक्रिया को ऑप्टिकल स्लाइसिंग कहा जाता है)। इस तकनीक का व्यापक रूप से वैज्ञानिक और औद्योगिक क्षेत्रों में उपयोग किया जाता है, जिसमें विशिष्ट अनुप्रयोग जीवन विज्ञान, अर्धचालक निरीक्षण और सामग्री विज्ञान हैं।
कन्फोकल माइक्रोस्कोपी आम तौर पर एक प्रतिदीप्ति माइक्रोस्कोप और एक कन्फोकल माइक्रोस्कोप है।
फ्लोरोसेंट माइक्रोस्कोप का उपयोग मुख्य रूप से जैविक क्षेत्र और चिकित्सा अनुसंधान में किया जाता है, जो कोशिकाओं या ऊतकों की आंतरिक सूक्ष्म संरचना की फ्लोरोसेंट छवियां प्राप्त कर सकता है, शारीरिक संकेतों जैसे सीए 2+, पीएच मान, झिल्ली क्षमता और कोशिका आकृति विज्ञान में परिवर्तन का निरीक्षण कर सकता है। उपकोशिकीय स्तर, और आकृति विज्ञान, आणविक जीव विज्ञान, तंत्रिका विज्ञान, औषध विज्ञान, आनुवंशिकी और अन्य क्षेत्रों में शक्तिशाली अनुसंधान उपकरणों की एक नई पीढ़ी है। कन्फोकल तकनीक पर आधारित कन्फोकल माइक्रोस्कोपी का उपयोग सूक्ष्म और नैनो स्तर पर विभिन्न सटीक उपकरणों और सामग्रियों की सतह को मापने के लिए किया जाता है।
सामग्री विज्ञान का लक्ष्य सामग्री की सतह संरचना के सतह गुणों पर प्रभाव का अध्ययन करना है। इसलिए, सतह खुरदरापन, परावर्तक गुण, जनजातीय गुण और सतह की गुणवत्ता जैसे प्रासंगिक मापदंडों को निर्धारित करने के लिए सतह आकृति विज्ञान का उच्च-रिज़ॉल्यूशन विश्लेषण बहुत महत्वपूर्ण है। कन्फोकल तकनीक सतह प्रतिबिंब विशेषताओं के साथ विभिन्न सामग्रियों को माप सकती है और प्रभावी माप डेटा प्राप्त कर सकती है।
कन्फोकल माइक्रोस्कोपी कन्फोकल माइक्रोस्कोपी तकनीक पर आधारित है, जो सटीक जेड-स्कैन मॉड्यूल, 3 डी मॉडलिंग एल्गोरिदम इत्यादि के साथ संयुक्त है, जो डिवाइस की सतह पर गैर-संपर्क स्कैनिंग कर सकती है और डिवाइस सतह स्थलाकृति के 3 डी माप का एहसास करने के लिए सतह की 3 डी छवि स्थापित कर सकती है। सामग्री उत्पादन परीक्षण के क्षेत्र में, विभिन्न उत्पादों, घटकों और सामग्रियों की सतह आकृति विज्ञान विशेषताओं को मापना और उनका विश्लेषण करना संभव है, जिसमें सतह प्रोफ़ाइल, सतह दोष, घिसाव, संक्षारण, समतलता, खुरदरापन, लहरदारपन, छिद्र अंतराल, चरण ऊंचाई शामिल हैं। , झुकने की विकृति, और प्रसंस्करण की स्थिति।
