लेजर कॉन्फोकल माइक्रोस्कोपी और स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी के बीच अंतर इस प्रकार हैं
दोनोंलेजर कन्फोकल माइकरोस्कोप और एसईएम बिंदु-स्रोत, बिंदु-दर-बिंदु स्कैनिंग इमेजिंग हैं जहां स्कैनिंग ड्राइव रेंज को नियंत्रित करके आवर्धन को समायोजित किया जाता है। एक लेजर कॉन्फोकल माइक्रोस्कोप तीन आयामी छवियों को प्राप्त करने के लिए लेजर के साथ स्कैन करके काम करता है। स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप इमेजिंग को मॉड्यूलेट करने के लिए विभिन्न प्रकार के भौतिक संकेतों के नमूने की सतह स्कैनिंग उत्तेजना में बारीक केंद्रित इलेक्ट्रॉन बीम का उपयोग है, केवल दो आयामी छवियां प्राप्त कर सकता है, तीन आयामी छवियां नहीं प्राप्त कर सकता है।
1, विभिन्न सीमित संकल्प (विभिन्न सिग्नल स्रोतों का प्रवर्धन)
लेजर कन्फोकल: अंतिम रिज़ॉल्यूशन 150nm
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप: 20एनएम ~ 0.8एनएम
2, विभिन्न स्कैनिंग ड्राइव मोड
लेजर कन्फोकल: लेजर स्कैनिंग रेंज और स्कैनिंग गति को नियंत्रित करने के लिए लेजर घूर्णन दर्पण
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप: विद्युत चुम्बकीय कुंडल नियंत्रण इलेक्ट्रॉन बीम स्कैनिंग रेंज और स्कैनिंग गति
3,विभिन्न स्टीरियो इमेजिंग
लेजर कन्फोकल: नमूना को नैनो-प्रिसिजन स्टेपर मोटर द्वारा Z-अक्ष दिशा में परत दर परत इमेजिंग द्वारा संचालित किया जाता है, सॉफ्टवेयर प्रत्येक परत की छवि को एक स्पष्ट 3D स्टीरियो छवि को संश्लेषित करने के लिए सेट करेगा।
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप: क्षेत्र की बड़ी गहराई के साथ एकल-फ्रेम छवि, दो-आयामी छवि से संबंधित है।
4,विभिन्न अनुप्रयोग क्षेत्र
लेजर कन्फोकल: कई बार से लेकर कई हजार बार तक
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप: कई बार ~ लाखों बार
5, अलग-अलग कार्य वातावरण
लेजर कन्फोकल: वायुमंडलीय वातावरण में नमूनों का परीक्षण कर सकता है
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप: उच्च निर्वात वातावरण में नमूनों का परीक्षण।
