ईमानदार मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप और उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के अनुप्रयोग के बीच अंतर
ईमानदार मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप और उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के अनुप्रयोग के बीच अंतर
सीधा और उल्टा के बीच का अंतर बस इतना है कि सीधा नमूना नीचे रखा गया है, और उलटा नमूना ऊपर रखा गया है। सीधे उद्देश्य नीचे की ओर, उल्टे उद्देश्य ऊपर की ओर इंगित करते हैं।
उलटा धातुकर्म माइक्रोस्कोप, चूंकि नमूने की अवलोकन सतह नीचे की ओर कार्यक्षेत्र की सतह से मेल खाती है, अवलोकन उद्देश्य लेंस कार्यक्षेत्र के नीचे स्थित होता है और ऊपर की ओर देखा जाता है, यह अवलोकन रूप नमूने की ऊंचाई तक सीमित नहीं है, जब तक कि एक नमूना तैयार करते समय अवलोकन सतह समतल होती है, इसलिए इसका व्यापक रूप से कारखाने की प्रयोगशालाओं, वैज्ञानिक अनुसंधान संस्थानों और कॉलेजों में उपयोग किया जाता है। उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के आधार में एक बड़ा सहायक क्षेत्र, गुरुत्वाकर्षण का निम्न केंद्र, स्थिर और विश्वसनीय संचालन होता है, और ऐपिस और सहायक सतह 45 डिग्री पर झुकी होती है, जिससे अवलोकन आरामदायक हो जाता है।
सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के समान बुनियादी कार्य होते हैं, केवल 20-30 मिमी की ऊंचाई के साथ धातु के नमूनों के विश्लेषण और पहचान को छोड़कर, क्योंकि यह लोगों की दैनिक आदतों के अनुरूप होता है, इसका उपयोग पारदर्शी में अधिक व्यापक रूप से किया जाता है। , पारभासी या अपारदर्शी पदार्थ। सीधा धातुकर्म माइक्रोस्कोप अवलोकन के दौरान एक सकारात्मक छवि बनाता है, जो उपयोगकर्ता के अवलोकन और पहचान में बहुत सुविधा लाता है। 20-30मिमी ऊंचाई वाले धातु के नमूनों के विश्लेषण और पहचान के अलावा, 3 माइक्रोन से बड़े और 20 माइक्रोन से कम के अवलोकन लक्ष्य, जैसे कि सेरमेट, इलेक्ट्रॉनिक चिप्स, मुद्रित सर्किट, एलसीडी सब्सट्रेट, फिल्म, फाइबर, सतह पर दानेदार वस्तुएं, कोटिंग्स और अन्य सामग्री की संरचना और निशानों का अच्छा इमेजिंग प्रभाव हो सकता है।
