इलेक्ट्रॉनिक्स उद्योग में सूक्ष्म उपकरणों में इन्फ्रारेड माइक्रोस्कोप का अनुप्रयोग
नैनोटेक्नोलॉजी के विकास के साथ, इसके शीर्ष से नीचे लघुकरण दृष्टिकोण को सेमीकंडक्टर प्रौद्योगिकी के क्षेत्र में तेजी से लागू किया जा रहा है। हम IC तकनीक को "माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक्स" कहते थे क्योंकि ट्रांजिस्टर का आकार माइक्रोमीटर (10-6 मीटर) रेंज में होता है। लेकिन सेमीकंडक्टर तकनीक बहुत तेज़ी से विकसित हो रही है, हर दो साल में एक पीढ़ी आगे बढ़ रही है, और आकार अपने मूल आकार से आधा हो जाएगा, जो कि प्रसिद्ध मूर का नियम है। लगभग 15 साल पहले, अर्धचालकों ने सब माइक्रोन युग में प्रवेश करना शुरू किया, जो कि माइक्रोमीटर से छोटा है, इसके बाद गहरे सब माइक्रोन युग में प्रवेश हुआ, जो माइक्रोमीटर से बहुत छोटा है। 2001 तक, ट्रांजिस्टर का आकार 0.1 माइक्रोमीटर से भी कम हो गया था, जो कि 100 नैनोमीटर से भी कम है। इसलिए, नैनोइलेक्ट्रॉनिक्स के युग में, भविष्य के अधिकांश आईसी नैनोटेक्नोलॉजी का उपयोग करके बनाए जाएंगे।
तकनीकी आवश्यकताएं:
वर्तमान में, इलेक्ट्रॉनिक उपकरण विफलता का मुख्य रूप थर्मल विफलता है। आँकड़ों के अनुसार, 55% इलेक्ट्रॉनिक उपकरण विफलताएँ निर्दिष्ट मान से अधिक तापमान के कारण होती हैं, और बढ़ते तापमान के साथ इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों की विफलता दर तेजी से बढ़ जाती है। सामान्यतया, इलेक्ट्रॉनिक घटकों की परिचालन विश्वसनीयता तापमान के प्रति अत्यधिक संवेदनशील होती है, 70-80 डिग्री सेल्सियस के बीच डिवाइस के तापमान में प्रत्येक 1 डिग्री की वृद्धि पर विश्वसनीयता में 5% की कमी आती है। इसलिए, डिवाइस के तापमान का शीघ्र और विश्वसनीय रूप से पता लगाना आवश्यक है। सेमीकंडक्टर उपकरणों के तेजी से छोटे होते आकार के कारण, पता लगाने वाले उपकरणों के तापमान रिज़ॉल्यूशन और स्थानिक रिज़ॉल्यूशन पर उच्च आवश्यकताएं लगाई गई हैं।
