एक उपयुक्त माइक्रोस्कोप प्रणाली का चयन
खरीदने से पहले यह समझ लें कि आप जिस नमूने का परीक्षण करना चाहते हैं उसके लिए किस प्रकार का माइक्रोस्कोप उपयुक्त है?
विभिन्न देखे गए नमूनों के आधार पर सूक्ष्मदर्शी को उनके कार्यों के अनुसार वर्गीकृत किया जा सकता है: आम तौर पर, मेटलोग्राफिक सूक्ष्मदर्शी, ध्रुवीकरण सूक्ष्मदर्शी, स्टीरियोमाइक्रोस्कोप, जैविक सूक्ष्मदर्शी, प्रतिदीप्ति सूक्ष्मदर्शी आदि होते हैं। विभिन्न कार्यात्मक सूक्ष्मदर्शी का उपयोग भी भिन्न होता है। ध्रुवीकरण सूक्ष्मदर्शी का उपयोग मुख्य रूप से भूवैज्ञानिक अयस्कों जैसे अनिसोट्रोपिक गैर-धातु सामग्री का पता लगाने के लिए किया जाता है। मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोपी का उपयोग मुख्य रूप से धातुओं जैसे विभिन्न अपारदर्शी सामग्रियों की आंतरिक संरचना और संरचना के अवलोकन, पहचान और विश्लेषण के लिए किया जाता है। कारखानों, खनन उद्यमों, उच्च शिक्षा संस्थानों और वैज्ञानिक अनुसंधान विभागों के लिए उपयुक्त। यह उपकरण एक कैमरा डिवाइस से सुसज्जित है, जो मेटलोग्राफिक छवियों को कैप्चर कर सकता है और उन्हें माप और विश्लेषण कर सकता है। इसमें संपादन, आउटपुट, भंडारण और छवियों को प्रबंधित करने जैसे कार्य भी हैं। स्टीरियोस्कोपिक माइक्रोस्कोपी माइक्रोमीटर स्तर के व्यावहारिक विश्लेषण, फ्रैक्चर का पता लगाने, इलेक्ट्रॉनिक उद्योग उत्पादन लाइनों के निरीक्षण, मुद्रित सर्किट बोर्डों के अंशांकन, मुद्रित सर्किट घटकों में वेल्डिंग दोषों के अंशांकन (प्रिंटिंग मिसलिग्न्मेंट, एज पतन, आदि) के लिए उपयुक्त है, एकल बोर्ड पीसी के अंशांकन के लिए उपयुक्त है। , और नमूना सतहों के विस्तृत अवलोकन के साथ सभी क्षेत्र। माप सॉफ्टवेयर के साथ, विभिन्न डेटा को मापा जा सकता है। जैविक सूक्ष्मदर्शी का उपयोग मुख्य रूप से चिकित्सा और स्वास्थ्य क्षेत्र के साथ-साथ स्कूलों और अनुसंधान संस्थानों में चिकित्सा निदान, परीक्षण, शिक्षण और अनुसंधान के लिए किया जाता है। इसलिए, खरीदने से पहले, यह स्पष्ट करना महत्वपूर्ण है कि आप किस प्रकार का नमूना देखना चाहते हैं, ताकि व्यापारी आपको उपयुक्त माइक्रोस्कोप की सिफारिश कर सके।
एक सीधा माइक्रोस्कोप या उल्टा माइक्रोस्कोप खरीदें?
मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप, जिसे सामग्री माइक्रोस्कोप के रूप में भी जाना जाता है, मुख्य रूप से धातु ऊतक की संरचना का निरीक्षण करने के लिए उपयोग किया जाता है। इसे सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप और उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में विभाजित किया जा सकता है
सीधा मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप अवलोकन के दौरान एक सकारात्मक छवि बनाता है, जो उपयोगकर्ता के अवलोकन और पहचान में बहुत सुविधा लाता है। 20-30मिमी ऊंचाई वाले धातु के नमूनों का विश्लेषण और पहचान करने के अलावा, मानव दैनिक आदतों के अनुपालन के कारण इसका उपयोग पारदर्शी, अर्ध पारदर्शी, या अपारदर्शी सामग्रियों में अधिक व्यापक रूप से किया जाता है। 3 माइक्रोन से बड़ी लेकिन 20 माइक्रोन से छोटी वस्तुओं, जैसे धातु सिरेमिक, इलेक्ट्रॉनिक चिप्स, मुद्रित सर्किट, एलसीडी सब्सट्रेट, पतली फिल्म, फाइबर, दानेदार वस्तुएं, कोटिंग्स और अन्य सामग्रियों का अवलोकन करने से सतह की संरचना पर अच्छा इमेजिंग प्रभाव हो सकता है और निशान. इसके अलावा, बाहरी कैमरा सिस्टम अधिक पेशेवर मेटलोग्राफी, माप और इंटरैक्टिव शिक्षण क्षेत्रों की जरूरतों को पूरा करने के लिए विभिन्न सॉफ्टवेयर के साथ मिलकर वास्तविक समय और स्थिर छवि अवलोकन, बचत और संपादन, प्रिंटिंग के लिए वीडियो स्क्रीन और कंप्यूटर को आसानी से कनेक्ट कर सकता है। इनवर्टेड मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप विभिन्न धातुओं और मिश्र धातुओं की सूक्ष्म संरचना की पहचान और विश्लेषण करने के लिए ऑप्टिकल प्लेन इमेजिंग विधि का उपयोग करता है। यह धातु भौतिकी में मेटलोग्राफी का अध्ययन करने के लिए एक महत्वपूर्ण उपकरण है और कास्टिंग गुणवत्ता, कच्चे माल के निरीक्षण, या प्रक्रिया प्रसंस्करण के बाद सामग्री मेटलोग्राफिक संरचना के अनुसंधान और विश्लेषण के लिए कारखानों या प्रयोगशालाओं में व्यापक रूप से उपयोग किया जा सकता है, जो सहज विश्लेषण परिणाम प्रदान करता है। यह खनन, धातुकर्म, विनिर्माण और यांत्रिक प्रसंस्करण उद्योगों में कास्टिंग, गलाने और गर्मी उपचार की गुणवत्ता की पहचान और विश्लेषण के लिए एक महत्वपूर्ण उपकरण है। हाल के वर्षों में, माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक्स उद्योग में चिप उत्पादन का समर्थन करने के लिए उच्च आवर्धन प्लानर माइक्रोस्कोपी तकनीक की आवश्यकता के कारण, उद्योग की विशेष जरूरतों को पूरा करने के लिए मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप पेश किए गए हैं और लगातार सुधार किया गया है। उलटा मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप, इस तथ्य के कारण कि नमूने की अवलोकन सतह कार्य तालिका की सतह से मेल खाती है, अवलोकन उद्देश्य कार्य तालिका के नीचे स्थित है और ऊपर की ओर देखा गया है। यह अवलोकन प्रपत्र नमूने की ऊंचाई तक सीमित नहीं है, और उपयोग में सुविधाजनक है। उपकरण की संरचना कॉम्पैक्ट है, और उपस्थिति सुंदर और उदार है। उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में एक बड़ा आधार समर्थन क्षेत्र, गुरुत्वाकर्षण का निचला केंद्र होता है, और यह सुरक्षित, स्थिर और विश्वसनीय होता है। ऐपिस और सपोर्ट सतह 45 डिग्री पर झुकी हुई है, जिससे अवलोकन आरामदायक हो जाता है।
मानक कॉन्फ़िगरेशन चयन के अलावा, उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में तकनीकी सुधार के माध्यम से प्रत्यक्ष छवि आउटपुट फ़ंक्शन होता है, जो आसानी से कंप्यूटर से जुड़ सकता है और प्रक्रिया आवश्यकताओं के अनुसार बुद्धिमान प्रसंस्करण के लिए सॉफ़्टवेयर लागू कर सकता है। सीधे शब्दों में कहें तो सीधा नमूना नीचे और उल्टा नमूना ऊपर रखें। सीधा उद्देश्य नीचे की ओर है, और उल्टा उद्देश्य ऊपर की ओर है। कहने का तात्पर्य यह है कि, उल्टे लेंस को मंच के नीचे रखा गया है, और परीक्षण ब्लॉक को मंच पर नीचे की ओर रखा गया है। इस समय, लेंस नीचे है, और परीक्षण ब्लॉक शीर्ष पर उल्टा है। लेंस नीचे से ऊपर तक परीक्षण सतह का निरीक्षण करता है।
