अवलोकन और स्कैनिंग के निकट-क्षेत्र ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी का अनुप्रयोग
फील्ड ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी (एसएनओएम) के पास स्कैनिंग एक ऑप्टिकल स्कैनिंग जांच माइक्रोस्कोपी (एसपीएम) तकनीक है जो निकट-क्षेत्र का पता लगाने के सिद्धांत के आधार पर विकसित की जाती है। इसका संकल्प ऑप्टिकल विवर्तन सीमा से अधिक हो गया है, 10-200 तक पहुंच गया है। एम। तकनीकी अनुप्रयोगों के संदर्भ में, एसएनओएम एकल-अणु पता लगाने, जैविक संरचनाओं पर अनुसंधान, नैनो माइक्रोस्ट्रक्चर, सेमीकंडक्टर एक्सोसाइटोसिस विश्लेषण और सबस्ट्रक्चर अध्ययन के लिए एक शक्तिशाली उपकरण प्रदान करता है; भौतिकी में, यह कई विषयों जैसे कि क्वांटम ऑप्टिक्स, वेवगाइड ऑप्टिक्स और ढांकता हुआ भौतिकी को जोड़ती है, और इस तरह से ऑप्टिकल अनुसंधान के एक नए क्षेत्र को खोलता है - फील्ड ऑप्टिक्स (ऑप्टिक्स) के पास। 1। विकास इतिहास और घर और विदेश में SNOM का वर्तमान अनुसंधान स्थिति। एबेल सिद्धांत के अनुसार, पारंपरिक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप का संकल्प ऑप्टिकल विवर्तन सीमा द्वारा सीमित है, अर्थात, ने === एक ही समीकरण में, कृत्रिम रोशनी प्रकाश की तरंग दैर्ध्य ,, I और O क्रमशः ऑब्जेक्ट स्पेस के अपवर्तक सूचकांक और आधा कोण एपर्चर हैं।
1980 के दशक के बाद से, छोटे पैमाने पर और कम आयामी स्थानों की ओर विज्ञान और प्रौद्योगिकी की उन्नति के साथ-साथ जांच माइक्रोस्कोपी प्रौद्योगिकी को स्कैन करने के विकास के साथ, एक नया अनुशासन प्रकाशिकी के क्षेत्र में उभरा है-निकट-क्षेत्र प्रकाशिकी। फील्ड ऑप्टिक्स के पास ऑप्टिकल घटना को संदर्भित करता है जहां फोटोडेटेक्टर और नमूना के बीच की दूरी विकिरण तरंग दैर्ध्य से कम है; निकट-फील्ड ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप एक नए प्रकार का अल्ट्रा-हाई स्पेटियल रिज़ॉल्यूशन ऑप्टिकल इंस्ट्रूमेंट है जो निकट-क्षेत्र के प्रकाशिकी के सिद्धांत पर आधारित है। 1984 में, निकट-फील्ड ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के प्रोटोटाइप का आविष्कार, "ऑप्टिकल स्टेथोस्कोप," ने मनुष्यों द्वारा ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के विवर्तन सीमा समाधान में पहली सफलता को चिह्नित किया। 1992 के बाद से, जब सिंगल-मोड ऑप्टिकल फाइबर का उपयोग ऑप्टिकल जांच बनाने के लिए किया गया था और कतरनी बलों का उपयोग जांच टिप से नमूना सतह तक की दूरी को मापने के लिए किया गया था, तो निकट-क्षेत्र के ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप का उपयोग एक नए प्रकार के ऑप्टिकल इंस्ट्रूमेंट के रूप में किया गया है, जो कि सबवेवेल्थ ऑब्जेक्ट्स के उपस्थिति, आकृति विज्ञान और इंट्रिंसिक गुणों को देखने और अध्ययन करने के लिए किया गया है। निम्नलिखित कुछ वर्षों में, यह व्यापक रूप से भौतिकी, रसायन विज्ञान, जीव विज्ञान, चिकित्सा और नैनोस्केल और मेसोस्कोपिक तराजू में सूचना जैसे क्षेत्रों में लागू किया गया था।
