ऑसिलोस्कोप करंट जांच की विशेषताएं और प्रदर्शन

ऑसिलोस्कोप करंट जांच की विशेषताएं और प्रदर्शन

करंट जांच एक तार के भीतर घूम रहे इलेक्ट्रॉनों द्वारा उत्पन्न चुंबकीय क्षेत्र को मापते हैं। करंट जांच की सीमा विनिर्देशों के भीतर, कंडक्टर के चारों ओर चुंबकीय प्रवाह क्षेत्र को एक रैखिक वोल्टेज आउटपुट में परिवर्तित किया जाता है जिसे ऑसिलोस्कोप या अन्य माप उपकरण पर प्रदर्शित और विश्लेषण किया जा सकता है। जांच कोर (विभाजित कोर और ठोस कोर) के चारों ओर तार को पूरी तरह से लपेटकर, चुंबकीय प्रवाह क्षेत्र को सटीक रूप से मापा जा सकता है। स्प्लिट कोर जांच बहुत सुविधाजनक हैं, उन्हें तारों पर बिना डिस्कनेक्ट किए क्लिप किया जा सकता है। सॉलिड कोर करंट ट्रांसफॉर्मर (CT) स्थायी या अर्ध-स्थायी इंस्टॉलेशन के लिए डिज़ाइन किए गए हैं। वे छोटे होते हैं और बहुत उच्च आवृत्ति प्रतिक्रिया प्रदान करते हैं जो अल्ट्रा-फास्ट, कम-आयाम वाले करंट पल्स और AC सिग्नल को माप सकते हैं।

ऑसिलोस्कोप करंट जांच की विशेषताएं और प्रदर्शन

बस TEKR{{0}}BEBNC इंटरफ़ेस के माध्यम से करंट को मापें। स्प्लिट-कोर कोर संरचना के साथ सीधे TDS श्रृंखला से जुड़ा हुआ है, इसे आसानी से सर्किट DC से 50MHz बैंडविड्थ 15A DC दस पीक AC करंट 50A पीक पल्स करंट 500*0.000001 (एम्पीयर-सेकंड) से जोड़ा जा सकता है।

प्रदर्शन:

1. बैंडविड्थ डीसी से 50 मेगाहर्ट्ज.

2. अधिकतम डीसी+पीक एसी करंट—15A.

3. अधिकतम शिखर पल्स धारा—50A.

4. न्यूनतम संवेदनशीलता—10mA/div.

5.डीसी सटीकता—

6.±1% (जांच अंशशोधक के साथ)

7.±3% (जांच अंशशोधक के बिना).

8. अधिकतम नंगे तार वोल्टेज - 300V (CAT︱)।