माइक्रोस्कोप ऑप्टिकल विफलता विश्लेषण
सूक्ष्मदर्शी दोहरी छवियाँ मेल नहीं खातीं। दूरबीन ऐपिस के अवलोकन में, कभी-कभी दोहरी छवि गलत संरेखण की घटना होगी। दोहरी छवि गलत संरेखण की उपस्थिति दो लेंस बैरल की लंबाई के असंगत मुआवजे की परवाह नहीं करती है। दोनों ऐपिस का आवर्धन काफी अलग है, और उपयोग या परिवहन के दौरान कंपन से दूरबीन को नुकसान होता है। प्रिज्म की स्थिति तीन कारणों से स्थानांतरित होती है। पहले दो कारणों से, उन्हें फ़ैक्टरी छोड़ते समय कैलिब्रेट और मिलान किया गया है, और जब तक आप उपयोग के दौरान विधि और मिलान पर ध्यान देते हैं, तब तक उन्हें हल किया जा सकता है।
माइक्रोस्कोप का तीसरा कारण अधिक सामान्य है। इस समय, दूरबीन खोल खोला जाना चाहिए, प्लेटफ़ॉर्म पर एक क्रॉस रूलर रखा जाना चाहिए, और अवलोकन के लिए बाएं और दाएं लेंस बैरल में 10X रेटिकल ऐपिस डाला जाना चाहिए, और दूरबीन प्रिज्म की स्थिति और कोण को ठीक किया जाना चाहिए . , और जब दूरबीन ऐपिस को विभिन्न कोणों पर निरीक्षण करने के लिए घुमाया जाता है, तो क्रॉस चिह्नों की स्थिति बाएं और दाएं ऐपिस के दृश्य क्षेत्र की समान स्थिति पर होती है, और फिर उन्हें कस दिया जाता है।
जब माइक्रोस्कोप दूरबीन से अवलोकन करता है, तो कभी-कभी देखने के बाएं और दाएं क्षेत्रों की चमक और रंग में विसंगतियां होंगी, जो अवलोकन को प्रभावित करेंगी। यह बीम स्प्लिटिंग प्रिज्म की स्प्लिटिंग फिल्म की क्षति के कारण होता है। इस समय, बीम स्प्लिटिंग प्रिज्म को हटा दिया जाना चाहिए और संयोजन और उपयोग से पहले पुन: कोटिंग के लिए माइक्रोस्कोप निर्माता को भेजा जाना चाहिए। .
ईमानदार मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप और उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के अनुप्रयोग के बीच अंतर
उलटा धातुकर्म माइक्रोस्कोप, चूंकि नमूने की अवलोकन सतह नीचे की ओर कार्यक्षेत्र की सतह से मेल खाती है, अवलोकन उद्देश्य लेंस कार्यक्षेत्र के नीचे स्थित होता है और ऊपर की ओर देखा जाता है, यह अवलोकन रूप नमूने की ऊंचाई तक सीमित नहीं है, जब तक कि एक नमूना तैयार करते समय अवलोकन सतह समतल होती है, इसलिए इसका व्यापक रूप से कारखाने की प्रयोगशालाओं, वैज्ञानिक अनुसंधान संस्थानों और कॉलेजों में उपयोग किया जाता है। उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के आधार में एक बड़ा सहायक क्षेत्र, गुरुत्वाकर्षण का निम्न केंद्र, स्थिर और विश्वसनीय संचालन होता है, और ऐपिस और सहायक सतह 45 डिग्री पर झुकी होती है, जिससे अवलोकन आरामदायक हो जाता है।
सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के समान बुनियादी कार्य होते हैं, केवल 20-30 मिमी की ऊंचाई के साथ धातु के नमूनों के विश्लेषण और पहचान को छोड़कर, क्योंकि यह लोगों की दैनिक आदतों के अनुरूप होता है, इसका उपयोग पारदर्शी में अधिक व्यापक रूप से किया जाता है। , पारभासी या अपारदर्शी पदार्थ। सीधा धातुकर्म माइक्रोस्कोप अवलोकन के दौरान एक सकारात्मक छवि बनाता है, जो उपयोगकर्ता के अवलोकन और पहचान में बहुत सुविधा लाता है। 20-30मिमी ऊंचाई वाले धातु के नमूनों के विश्लेषण और पहचान के अलावा, 3 माइक्रोन से बड़े और 20 माइक्रोन से कम के अवलोकन लक्ष्य, जैसे कि सेरमेट, इलेक्ट्रॉनिक चिप्स, मुद्रित सर्किट, एलसीडी सब्सट्रेट, फिल्म, फाइबर, सतह पर दानेदार वस्तुएं, कोटिंग्स और अन्य सामग्री की संरचना और निशानों का अच्छा इमेजिंग प्रभाव हो सकता है।
