माइक्रोस्कोप के सामान्य दोष और समस्या निवारण के तरीके
टूल माइक्रोस्कोप लंबाई माप के परीक्षण में सबसे विशिष्ट और व्यापक रूप से उपयोग किया जाने वाला परीक्षण उपकरण है, क्योंकि यह लंबाई, कोण, धागा आदि को माप सकता है, और जटिल आकार और स्थिति वाले उत्पादों को माप सकता है, और यह अपेक्षाकृत उच्च परिशुद्धता है, इसलिए इसका उपयोग विशेष रूप से लंबाई माप में विभिन्न परीक्षण समस्याओं को हल करने के लिए किया जाता है। छवि विधि उपकरण माइक्रोस्कोप की एक विशिष्ट माप विधि है, जिसे आम तौर पर अधिकांश सर्वेक्षणकर्ताओं द्वारा पसंद किया जाता है।
1 छवि माप पद्धति का कार्य सिद्धांत
मापी जाने वाली वस्तु को प्रकाश उपकरण के प्रकाश पथ में रखें, प्रकाश स्रोत और ऑप्टिकल प्रणाली से गुजरें, और फिर मुख्य लेंस में इसकी छवि बनाएं। यह पोजिशनिंग मानक के रूप में मुख्य लेंस में पॉज़ियर उत्कीर्ण रेखा के साथ मेल खाता है, और विभिन्न मापों को पूरा करने के लिए माइक्रोस्कोप के साथ गठित छवि का निरीक्षण करता है। काम।
2 छवि माप पद्धति में महारत हासिल करने वाले कुछ तत्व
(1) फोकल लम्बाई
फोकल लंबाई मुख्य कारक है जो सीधे माप सटीकता को प्रभावित करती है, इसलिए फोकल लंबाई की समस्या छवि विधि द्वारा हल की जाने वाली प्राथमिक समस्या है। एक सर्वेक्षक के रूप में, व्यक्ति को ध्यान केंद्रित करने के नियमों, विशेषकर मूल फोकस की स्पष्टता में दक्ष होना चाहिए।
① सबसे पहले ऐपिस के डायोप्टर को समायोजित करें, ऐपिस पर डायोप्टर समायोजन रिंग को तब तक घुमाएं जब तक कि रेटिकल पर उत्कीर्ण रेखा स्पष्ट रूप से दिखाई न दे, मापने वाले कर्मियों को ऐपिस बदलते समय डायोप्टर को फिर से समायोजित करना होगा।
②माइक्रोस्कोप को देखने वाली सतह पर फोकस करें, केंद्रीय माइक्रोस्कोप को फोकसिंग हैंडव्हील के माध्यम से घुमाएं, और ऐपिस के दृश्य क्षेत्र में वस्तु की स्पष्ट रूपरेखा छवि प्राप्त करें। यदि यह स्पष्ट नहीं है, तो इसे स्पष्ट होने तक समायोजित करने के लिए बारीक हैंडव्हील को घुमाएँ। मापते समय, रेटिकल, रेटिकल और ऑब्जेक्ट छवि को एक ही फोकल प्लेन पर बनाएं, और एक ही समय में ऐपिस के दृश्य क्षेत्र में रेटिकल, रेटिकल और ऑब्जेक्ट छवि को स्पष्ट रूप से देखें।
(2) एपर्चर व्यास
जब मापी गई वस्तु एक चिकना बेलनाकार या थ्रेडेड हिस्सा है, तो माप त्रुटि को कम करने के लिए रोशनी एपर्चर के व्यास को सही ढंग से चुना जाना चाहिए। एपर्चर के व्यास को लैंप होल्डर पर घुंघराले रिंग को घुमाकर और शेडिंग प्लेट के डायल से शेडिंग प्लेट के व्यास को पढ़कर समायोजित किया जा सकता है। एपर्चर का व्यास संबंधित तालिका का हवाला देकर चुना जा सकता है।
लेकिन कुछ गैर-मानक ज्यामितीय आकृतियों के लिए, आप अपनी इच्छानुसार एपर्चर व्यास का आकार चुन सकते हैं और इसे माप सकते हैं।
(3) कामकाजी सतह और पोजिशनिंग डेटाम के बीच लंबवतता
मोटे किनारे वाले परीक्षण टुकड़ों के लिए जिन्हें उपकरणों द्वारा मापने की आवश्यकता होती है, हालांकि ड्राइंग पर ऊर्ध्वाधरता की कोई आवश्यकता नहीं है, काम करने वाली सतह की ऊर्ध्वाधरता और स्थिति सतह को भी सुनिश्चित किया जाना चाहिए। इससे न केवल परीक्षण टुकड़े की वास्तविक गुणवत्ता सुनिश्चित होगी, बल्कि संपूर्ण समयावधि प्रसंस्करण समय (मापने के समय सहित) भी कम हो जाएगा, जैसे ऊर्ध्वाधरता के निरीक्षण की अनदेखी करना और उत्पादन की विशिष्ट आवश्यकताओं के अनुसार नहीं, इससे अधिक नुकसान होगा अच्छा।
(4) संरेखण
तथाकथित संरेखण, चावल के चरित्र की उत्कीर्ण रेखा के साथ परीक्षण किए गए भाग की छवि रूपरेखा के किनारे को ओवरलैप करना है, जिसे आम तौर पर लक्ष्यीकरण और संरेखण कहा जाता है। उपकरण की सटीकता स्वयं स्थिर है, इसलिए माप की अनिश्चितता काफी हद तक सही संरेखण विधि और सही रीडिंग पर निर्भर करती है।
आमतौर पर इस्तेमाल की जाने वाली दो संरेखण विधियाँ हैं:
①गैप संरेखण विधि का अर्थ है कि संरेखण के दौरान छवि रूपरेखा के रेटिकल और किनारे के बीच एक निश्चित अंतर होता है। क्योंकि रूपरेखा एक काली छवि है, उत्कीर्ण रेखा भी काली है, और एक निश्चित अंतराल का निरीक्षण करना आसान है, और यह आंखों की थकान को भी कम करेगा। यह विधि कोण माप के लिए उपयुक्त है। यदि लंबाई माप अंतराल संरेखण विधि का उपयोग करता है, तो यह कभी संभव नहीं होगा। सही मूल्य पर.
② ओवरलैपिंग संरेखण विधि रेखा को संरेखित करने के लिए क्रॉस-आकार की रेखा की बिंदीदार रेखा का उपयोग करने को संदर्भित करती है, ताकि क्रॉस-आकार की रेखा और छवि का किनारा एक-दूसरे को ओवरलैप कर सके, ताकि दबाई गई रेखा की मात्रा देखी जा सके, और इसे पढ़ना आसान है. यह विधि लंबाई मापने के लिए उपयुक्त है। एक अच्छे मापक के रूप में, व्यक्ति को रेखा के आधे भाग (अर्थात रेखा के मध्य में) को समेटने की अच्छी आदत बनानी चाहिए। भी बराबर.
(5) अन्य तत्व
अभी भी कई कारक हैं जो छवि माप पद्धति में माप सटीकता को प्रभावित करते हैं, जैसे कि प्रकाश स्रोत के कारण होने वाला थर्मल विरूपण, प्राकृतिक प्रकाश और दीवारों जैसी वस्तुओं से परावर्तित प्रकाश, विशेष रूप से दो या दो से अधिक के पारस्परिक हस्तक्षेप से उत्पन्न विकृत प्रकाश। एक ही समय में प्रकाश की सतह। यह बहुत बड़ी है, साथ ही उपकरण की सिस्टम त्रुटि भी।
