कन्फोकल माइक्रोस्कोप की क्षमताओं का परिचय

कन्फोकल माइक्रोस्कोप की क्षमताओं का परिचय

कन्फ़ोकल माइक्रोस्कोपी मुख्य रूप से 3डी कैप्चर इमेजिंग तकनीक का उपयोग करती है, जो डिजिटल कैमरे के पिनहोल से उच्च - तीव्रता वाले लेजर के माध्यम से डिजिटल इमेजिंग प्राप्त करती है, और इसमें मजबूत ऊर्ध्वाधर गहराई रिज़ॉल्यूशन क्षमता होती है।

कन्फोकल माइक्रोस्कोप का इमेजिंग सिद्धांत
प्राप्त छवि को एक पिनहोल डिजिटल कैमरे के माध्यम से फोकल विमान से प्रकाश पर ध्यान केंद्रित करके कैप्चर किया जाता है, और विभिन्न फोकल विमानों से छवियों के संचित अनुक्रम के आधार पर सॉफ्टवेयर का उपयोग करके एक पूर्ण 3 डी छवि संकलित की जाती है।

कन्फोकल माइक्रोस्कोपी सिस्टम द्वारा प्रदर्शित आवर्धित छवि विवरण पारंपरिक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप की तुलना में अधिक हैं। पारंपरिक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप अक्सर छवियों को कैप्चर करने के लिए कम संवेदनशीलता वाले सीसीडी कैमरों से लैस होते हैं, जो प्रतिदीप्ति जैसी कम रोशनी की तीव्रता का पता नहीं लगा सकते हैं। इसके विपरीत, कन्फोकल माइक्रोस्कोपी सिस्टम अत्यधिक संवेदनशील फोटोमल्टीप्लायर ट्यूबों का उपयोग पता लगाने वाले तत्वों के रूप में करते हैं, जो कमजोर प्रतिदीप्ति संकेतों के प्रति उच्च संवेदनशीलता प्रदर्शित कर सकते हैं और उत्तेजना सीमा को कम करके और ऑप्टिकल सेक्शनिंग का उपयोग करके पृष्ठभूमि शोर को खत्म कर सकते हैं।

समान वस्तुनिष्ठ आवर्धन स्थितियों के तहत, कन्फोकल माइक्रोस्कोपी स्पष्ट और बेहतर रूपात्मक विवरण और उच्च पार्श्व रिज़ॉल्यूशन वाली छवियां प्रदर्शित करता है। माइक्रो नैनो डिटेक्शन के लिए एक शक्तिशाली उपकरण की तरह, कन्फोकल माइक्रोस्कोपी में सफेद प्रकाश इंटरफेरोमीटर से कई अंतर हैं। यदि हम इसका वर्णन करने के लिए एक शब्द का उपयोग करें, तो श्वेत प्रकाश इंटरफेरोमीटर "वेन" हैं, जबकि कन्फोकल माइक्रोस्कोप "वू" हैं। सफेद प्रकाश उप-नैनोमीटर स्तर की अति चिकनी सतहों का पता लगाने में उत्कृष्टता प्राप्त करता है और सटीक पहचान मूल्यों का पीछा करता है; हालाँकि, माइक्रो नैनो स्तर पर खुरदुरी आकृति का पता लगाने में कन्फोकल माइक्रोस्कोपी अच्छी है। हालाँकि इसका पता लगाने का रिज़ॉल्यूशन थोड़ा कम है, यह आसान अवलोकन के लिए रंगीन वास्तविक रंगीन छवियां प्रदान कर सकता है।

VT6000 श्रृंखला कॉन्फोकल माइक्रोस्कोप कॉन्फोकल तकनीक पर आधारित है, जो सटीक Z - दिशा स्कैनिंग मॉड्यूल, 3 डी मॉडलिंग एल्गोरिदम आदि के साथ संयुक्त है। यह विभिन्न सतह मापदंडों को माप सकता है जिसमें चिकनाई से खुरदरापन, कम परावर्तन से उच्च परावर्तन, और नैनोमीटर से माइक्रोमीटर स्तर तक वर्कपीस का खुरदरापन, समतलता, सूक्ष्म ज्यामितीय प्रोफ़ाइल, वक्रता आदि शामिल हैं। यह सतह आकृति विज्ञान विशेषताओं जैसे सतह प्रोफ़ाइल, सतह दोष, घिसाव, संक्षारण, सपाटता, खुरदरापन, लहरदारता, छिद्र अंतराल, चरण ऊंचाई, झुकने विरूपण, और विभिन्न उत्पादों, घटकों और सामग्रियों के प्रसंस्करण को माप और विश्लेषण कर सकता है।