स्कैनिंग प्रोब माइक्रोस्कोप की विशेषताओं का परिचय
स्कैनिंग जांच माइक्रोस्कोप (स्कैनिंग जांच माइक्रोस्कोप, एसपीएम) स्कैनिंग टनलिंग माइक्रोस्कोप है और स्कैनिंग टनलिंग माइक्रोस्कोप में विभिन्न प्रकार के नए जांच माइक्रोस्कोप (परमाणु बल माइक्रोस्कोप एएफएम, लेजर बल माइक्रोस्कोप एलएफएम, चुंबकीय बल माइक्रोस्कोप एमएफएम और इतने पर) के विकास के आधार पर सामूहिक रूप से, हाल के वर्षों में विश्लेषणात्मक उपकरणों की सतह का अंतरराष्ट्रीय विकास है, ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक्स प्रौद्योगिकी, लेजर प्रौद्योगिकी, कमजोर संकेत पहचान प्रौद्योगिकी, सटीक यांत्रिक डिजाइन और प्रसंस्करण, स्वचालित नियंत्रण प्रौद्योगिकी, डिजिटल सिग्नल प्रोसेसिंग प्रौद्योगिकी, लागू ऑप्टिकल प्रौद्योगिकी, कंप्यूटर उच्च गति अधिग्रहण और नियंत्रण और उच्च संकल्प ग्राफिक प्रसंस्करण प्रौद्योगिकी और ऑप्टिकल, यांत्रिक और विद्युत एकीकरण उच्च तकनीक उत्पादों की अन्य आधुनिक वैज्ञानिक और तकनीकी उपलब्धियों का व्यापक उपयोग है।
1, एसपीएम का रिज़ॉल्यूशन बहुत उच्च है। यह आसानी से परमाणु को "देख" सकता है, जिसे सामान्य माइक्रोस्कोप और यहां तक कि इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप तक पहुंचना मुश्किल है।
2, एसपीएम एक वास्तविक समय, वास्तविक नमूना सतह उच्च संकल्प छवि है, वास्तव में परमाणु को देखता है। कुछ विश्लेषणात्मक उपकरणों के विपरीत, नमूने की सतह संरचना अप्रत्यक्ष या कम्प्यूटेशनल तरीकों से निकाली जाती है।
3, एसपीएम का उपयोग एक शांत वातावरण में किया जाता है। इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप और अन्य उपकरणों की कार्य वातावरण आवश्यकताओं पर अधिक मांग होती है, परीक्षण के लिए नमूने को उच्च वैक्यूम स्थितियों में रखा जाना चाहिए। एसपीएम वैक्यूम में काम कर सकता है, लेकिन वातावरण, कम तापमान, कमरे के तापमान, उच्च तापमान और यहां तक कि घोल में भी काम कर सकता है। इसलिए, एसपीएम विभिन्न कार्य वातावरण में वैज्ञानिक प्रयोगों के लिए उपयुक्त है।
