ऑसिलोस्कोप के साथ प्रत्यक्ष माप पद्धति का परिचय

ऑसिलोस्कोप के साथ प्रत्यक्ष माप पद्धति का परिचय

तथाकथित प्रत्यक्ष माप विधि मापी गई वोल्टेज तरंग की ऊँचाई को सीधे स्क्रीन से मापना और फिर उसे वोल्टेज मान में बदलना है। वोल्टेज का मात्रात्मक परीक्षण करते समय, आम तौर पर वाई-अक्ष संवेदनशीलता स्विच के फाइन-ट्यूनिंग नॉब को "अंशांकन" स्थिति में बदल दिया जाता है। इस तरह, मापा मूल्य को सीधे "V/div" के संकेतित मूल्य और मापा संकेत द्वारा कब्जा किए गए ऊर्ध्वाधर अक्ष समन्वय मूल्य से गणना की जा सकती है। वोल्टेज मान। इसलिए, प्रत्यक्ष माप विधि को रूलर विधि भी कहा जाता है।

(1) एसी वोल्टेज का मापन
इनपुट तरंग के AC घटक को प्रदर्शित करने के लिए Y-अक्ष इनपुट युग्मन स्विच को "AC" स्थिति पर सेट करें। यदि AC सिग्नल की आवृत्ति बहुत कम है, तो Y-अक्ष इनपुट युग्मन स्विच को "DC" स्थिति में रखा जाना चाहिए।

मापी गई तरंग को ऑसिलोस्कोप स्क्रीन के केंद्र में ले जाएं, स्क्रीन के प्रभावी कार्य क्षेत्र के भीतर मापी गई तरंग को नियंत्रित करने के लिए "V/div" स्विच का उपयोग करें, और निर्देशांक पैमाने के स्नातकों के अनुसार संपूर्ण तरंग द्वारा कब्जा किए गए Y-अक्ष को पढ़ें। दिशा H की डिग्री, फिर मापी गई वोल्टेज का पीक-टू-पीक मान VP-P "V/div" स्विच संकेत मान और H के गुणनफल के बराबर हो सकता है। यदि माप के लिए जांच का उपयोग किया जाता है, तो जांच के क्षीणन को ध्यान में रखा जाना चाहिए, अर्थात, उपरोक्त गणना किए गए मूल्य को 10 से गुणा किया जाना चाहिए।

उदाहरण के लिए, ऑसिलोस्कोप का Y-अक्ष संवेदनशीलता स्विच "V/div" 0.2 स्तर पर है, और मापी गई तरंग का Y-अक्ष समन्वय आयाम H 5div है, तो इस सिग्नल वोल्टेज का पीक-टू-पीक मान 1V है। यदि जांच द्वारा मापा जाता है, तो उपरोक्त मान अभी भी इंगित किया जाता है, तो मापी गई सिग्नल वोल्टेज का पीक-टू-पीक मान 10V है।

(2) डीसी वोल्टेज का मापन
Y-अक्ष इनपुट कपलिंग स्विच को "ग्राउंड" स्थिति पर और ट्रिगर मोड स्विच को "ऑटो" स्थिति पर सेट करें ताकि स्क्रीन पर एक क्षैतिज स्कैन लाइन प्रदर्शित हो, जो एक शून्य-स्तर रेखा है।

Y-अक्ष इनपुट कपलिंग स्विच को "DC" स्थिति पर सेट करें और मापी गई वोल्टेज जोड़ें। इस समय, स्कैनिंग लाइन Y-अक्ष दिशा में एक जंप विस्थापन H उत्पन्न करती है। मापी गई वोल्टेज "V/div" स्विच संकेत मान और H का गुणनफल है।

प्रत्यक्ष माप पद्धति सरल और लागू करने में आसान है, लेकिन त्रुटि बड़ी है। त्रुटि उत्पन्न करने वाले कारकों में रीडिंग त्रुटि, लंबन और ऑसिलोस्कोप सिस्टम त्रुटियाँ (एटेन्यूएटर, डिफ्लेक्शन सिस्टम, ऑसिलोस्कोप ट्यूब एज इफेक्ट) आदि शामिल हैं।