एक ईमानदार माइक्रोस्कोप और एक उल्टे माइक्रोस्कोप के बीच चयन करने का परिचय
मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप, जिसे सामग्री माइक्रोस्कोप के रूप में भी जाना जाता है, का उपयोग मुख्य रूप से धातु संरचना की संरचना का निरीक्षण करने के लिए किया जाता है। इसे सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप और उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में विभाजित किया जा सकता है
सीधा मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप अवलोकन के दौरान एक सकारात्मक छवि बनाता है, जिससे उपयोगकर्ता के अवलोकन और पहचान में काफी सुविधा होती है। 20{6}}30 मिमी की ऊंचाई वाले धातु के नमूनों का विश्लेषण और पहचान करने के अलावा, मानव दैनिक आदतों के अनुरूप होने के कारण इसका उपयोग पारदर्शी, अर्ध पारदर्शी या अपारदर्शी पदार्थों के लिए अधिक व्यापक रूप से किया जाता है। 3 माइक्रोन से बड़े लेकिन 20 माइक्रोन से छोटे लक्ष्य, जैसे धातु सिरेमिक, इलेक्ट्रॉनिक चिप्स, मुद्रित सर्किट, एलसीडी सब्सट्रेट, फिल्म, फाइबर, दानेदार वस्तुएं, कोटिंग्स और अन्य सामग्रियों का अवलोकन, उनकी सतह संरचनाओं और निशानों के लिए अच्छे इमेजिंग प्रभाव प्राप्त कर सकते हैं। इसके अलावा, बाहरी कैमरा सिस्टम को वास्तविक समय और गतिशील छवि अवलोकन, बचत और संपादन, मुद्रण के लिए वीडियो स्क्रीन और कंप्यूटर से आसानी से जोड़ा जा सकता है, और अधिक पेशेवर मेटलोग्राफिक, माप और इंटरैक्टिव शिक्षण क्षेत्रों की जरूरतों को पूरा करने के लिए विभिन्न सॉफ्टवेयर के साथ जोड़ा जा सकता है। इनवर्टेड मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप विभिन्न धातुओं और मिश्र धातुओं की सूक्ष्म संरचना की पहचान और विश्लेषण करने के लिए ऑप्टिकल प्लेन इमेजिंग का उपयोग करता है। यह धातु भौतिकी में मेटलोग्राफी का अध्ययन करने के लिए एक महत्वपूर्ण उपकरण है और प्रक्रिया उपचार के बाद कास्टिंग गुणवत्ता, कच्चे माल के निरीक्षण, या सामग्री मेटलोग्राफिक संरचना के अनुसंधान और विश्लेषण के लिए कारखानों या प्रयोगशालाओं में व्यापक रूप से उपयोग किया जा सकता है। यह सहज विश्लेषण परिणाम प्रदान करता है और खनन, धातु विज्ञान, विनिर्माण और यांत्रिक प्रसंस्करण उद्योगों में कास्टिंग, गलाने और गर्मी उपचार की गुणवत्ता की पहचान और विश्लेषण के लिए एक महत्वपूर्ण उपकरण है।
हाल के वर्षों में, माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक्स उद्योग में चिप उत्पादन का समर्थन करने के लिए उच्च आवर्धन प्लानर माइक्रोस्कोपी तकनीक की आवश्यकता के कारण, उद्योग की विशेष जरूरतों को पूरा करने के लिए मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप पेश किए गए हैं और लगातार सुधार किया गया है। उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप, चूंकि नमूने की अवलोकन सतह कार्य तालिका की सतह के साथ मेल खाती है, अवलोकन उद्देश्य कार्य तालिका के नीचे स्थित होता है और ऊपर की ओर देखा जाता है। यह अवलोकन प्रपत्र नमूने की ऊंचाई तक सीमित नहीं है, उपयोग में आसान, उपकरण संरचना में कॉम्पैक्ट, दिखने में सुंदर और उदार है। उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप बेस में एक बड़ा समर्थन क्षेत्र और गुरुत्वाकर्षण का कम केंद्र होता है, जो स्थिर और विश्वसनीय होता है। ऐपिस और सपोर्ट सतह 45 डिग्री पर झुकी हुई है, जिससे अवलोकन आरामदायक हो जाता है।
