टूल माइक्रोस्कोप के माप ज्ञान का परिचय
1. छवि विधि: छवि विधि केंद्रीय ओलंपस माइक्रोस्कोप के निशानों का उपयोग करके छवि विधि को लक्षित करने और स्थिति निर्धारित करने की एक माप विधि है। मापते समय, आम तौर पर रेटिकल पर स्क्राइब लाइन के साथ परीक्षण टुकड़े की छवि के किनारे पर लक्ष्य रखें, और रीडिंग ओलंपस माइक्रोस्कोप पर मूल्य पढ़ें, फिर परीक्षण टुकड़े की छवि के दूसरी तरफ लक्ष्य करने के लिए कार्यक्षेत्र को स्थानांतरित करें उसी स्क्राइब लाइन के साथ, और फिर * *रीडिंग करें। दोनों रीडिंग के बीच का अंतर मापे गए टुकड़े का मापा मूल्य है।
2. अक्षीय काटने की विधि: अक्षीय काटने की विधि एक मापने की विधि है जो मापने वाले भाग से गुजरने वाली अक्ष रेखा और मापने वाले चाकू पर अंकित रेखा को लक्षित करने और पता लगाने के लिए केंद्रीय माइक्रोस्कोप के निशान का उपयोग करती है। मापने वाला चाकू वांगोंग्ज़िआन का एक सहायक उपकरण है। इसकी सतह पर एक मोमेंट लाइन होती है और स्क्राइब लाइन से कटिंग एज तक के आयाम 0.3 मिमी और 0.9 मिमी होते हैं। मापते समय, मापने वाले चाकू को मापने वाले चाकू की बैकिंग प्लेट पर रखा जाता है, और स्क्राइब लाइन की सतह मापे गए भाग की धुरी से होकर गुजरती है, ताकि मापने वाले चाकू की धार मापी गई सतह के निकट संपर्क में रहे, जिसका लक्ष्य हो संबंधित मेटर लाइन, और दो मापने वाले चाकू की स्क्राइब लाइनों के बीच की दूरी को मापने, मापा भाग का मापा मूल्य अप्रत्यक्ष रूप से मापा जाता है। माप में गणना से बचने के लिए, चार सममित रूप से वितरित समानांतर रेखाओं के दो समूहों को मध्य ऊर्ध्वाधर मेटर लाइन के दोनों किनारों पर उकेरा जाता है, और स्क्रिब्ड लाइनों के प्रत्येक समूह और केंद्र स्क्रिब लाइन के बीच की दूरी 0 होती है।9 क्रमशः मिमी और 2.7 मिमी, जो मापने वाले उपकरण के काटने वाले किनारे और अंकित रेखा के बीच की दूरी का ठीक तीन गुना है 0.3 मिमी और 0.9 मिमी.. इस तरह, ट्रिपल ऑब्जेक्टिव लेंस से निशाना लगाते समय, रेटिकल पर 0.9 मिमी और 2.7 मिमी अंकित रेखाएँ बस माप पर 0.3 मिमी और 0.9 मिमी अंकित रेखाएँ दबाएँ। चाकू, और मापने वाले चाकू की धार का लक्ष्य केवल मेटर लाइन की मध्य स्क्रिब लाइन पर होता है। मुख्य रूप से थ्रेड पिच व्यास को मापने के लिए उपयोग किया जाता है।
3. संपर्क विधि: संपर्क विधि एक मापने की विधि है जो ऑप्टिकल होल गेज के मापने वाले सिर से जुड़ी डबल स्क्रिब लाइनों को लक्ष्य करने और ढूंढने के लिए केंद्रीय माइक्रोस्कोप के निशान का उपयोग करती है, जो मापने के बिंदु के करीब एक सार्वभौमिक डिस्प्ले एक्सेसरी है , मापे गए टुकड़े की रेखा और सतह। मापते समय, ऑप्टिकल होल गेज की जांच को भाग की सतह (अंदर और बाहर) पर दबाएं। जब उस एपर्चर को मापते हैं, तो सबसे पहले, जांच को मापा टुकड़े के सराय छेद से संपर्क किया जाता है, और अधिकतम कॉर्ड लंबाई प्राप्त होने के बाद, मेटर लाइन की मध्य स्क्राइब लाइन को लाइनों के दोहरे सेट द्वारा बीच में स्लीव किया जाता है ऑप्टिकल होल गेज, और रीडिंग माइक्रोस्कोप में एक संख्या पढ़ी जाती है; फिर मापने की दिशा बदलें, ताकि जांच दूसरी तरफ परीक्षण टुकड़े से संपर्क करे। इसी तरह, मैटर रेटिकल की मध्य स्क्राइब लाइन अभी भी ऑप्टिकल होल गेज की लाइनों के दोहरे सेट द्वारा बीच में लिपटी हुई है, और रीडिंग माइक्रोस्कोप पर एक और नंबर पढ़ा जाता है। दो रीडिंग के बीच का अंतर, साथ ही जांच व्यास का वास्तविक मूल्य, परीक्षण टुकड़े का आंतरिक आयाम है, और यदि जांच व्यास का वास्तविक मूल्य घटा दिया जाता है, तो यह परीक्षण टुकड़े का बाहरी आयाम है।
