एकीकृत सर्किट का परीक्षण करने के लिए मल्टीमीटर का परीक्षण उपकरण के रूप में उपयोग कैसे करें?

एकीकृत सर्किट का परीक्षण करने के लिए मल्टीमीटर का परीक्षण उपकरण के रूप में उपयोग कैसे करें?

एकीकृत सर्किट को बदलना आसान है, लेकिन उसे अलग करना परेशानी भरा है। अलग करने से पहले, आपको सटीक रूप से यह निर्धारित करना चाहिए कि एकीकृत सर्किट वास्तव में क्षतिग्रस्त है या नहीं और नुकसान की सीमा क्या है, और अंधाधुंध तरीके से अलग करने से बचें। डीसी प्रतिरोध, वोल्टेज, एसी वोल्टेज और कुल करंट का माप मल्टीमीटर का उपयोग करके एकीकृत सर्किट का ऑनलाइन पता लगाने के लिए चार पहचान विधियाँ हैं।

(1) ऑनलाइन पता न लगना:
यह विधि तब की जाती है जब IC को सर्किट में सोल्डर नहीं किया जाता है। आम तौर पर, ग्राउंड पिन के अनुरूप प्रत्येक पिन के बीच आगे और पीछे के प्रतिरोध मानों को मापने के लिए एक मल्टीमीटर का उपयोग किया जा सकता है, और इसकी तुलना बरकरार IC से की जा सकती है।

(2)ऑनलाइन पहचान:
यह एक जांच विधि है जो प्रत्येक IC पिन ऑनलाइन (IC सर्किट में है) के DC प्रतिरोध, ग्राउंड पर AC और DC वोल्टेज और कुल ऑपरेटिंग करंट का पता लगाने के लिए मल्टीमीटर का उपयोग करती है। यह विधि प्रतिस्थापन परीक्षण विधि की सीमाओं को दूर करती है, जिसके लिए प्रतिस्थापन योग्य IC की आवश्यकता होती है और IC को अलग करने की परेशानी होती है। यह IC के परीक्षण के लिए सबसे अधिक इस्तेमाल की जाने वाली और व्यावहारिक विधि है।

①ऑनलाइन डीसी प्रतिरोध का पता लगाने की विधि: यह एक ऐसी विधि है जो सर्किट बोर्ड पर आईसी और परिधीय घटकों के प्रत्येक पिन के आगे और पीछे डीसी प्रतिरोध मूल्यों को सीधे मापने के लिए मल्टीमीटर ओम ब्लॉक का उपयोग करती है, और दोष को खोजने और निर्धारित करने के लिए सामान्य डेटा के साथ इसकी तुलना करती है। मापते समय कृपया निम्नलिखित तीन बिंदुओं पर ध्यान दें:

क. परीक्षण के दौरान मीटर और उसके घटकों को नुकसान से बचाने के लिए माप से पहले बिजली की आपूर्ति काट दें।

मल्टीमीटर के विद्युत अवरोध का आंतरिक वोल्टेज 6 V से अधिक नहीं होना चाहिए। माप सीमा के लिए R×100 या R×1 K श्रेणी का उपयोग करना सबसे अच्छा है।

सी. आईसी पिन मापदंडों को मापते समय, माप की स्थितियों पर ध्यान दें, जैसे कि परीक्षण के तहत मॉडल, आईसी से संबंधित पोटेंशियोमीटर के स्लाइडिंग आर्म की स्थिति, आदि, और परिधीय सर्किट घटकों की गुणवत्ता पर भी विचार करें।

② डीसी वर्किंग वोल्टेज माप विधि: यह डीसी सप्लाई वोल्टेज और परिधीय घटकों के वर्किंग वोल्टेज को मापने की एक विधि है, जब बिजली चालू होती है, तो मल्टीमीटर डीसी वोल्टेज ब्लॉक का उपयोग किया जाता है; आईसी के प्रत्येक पिन के डीसी वोल्टेज मान को ग्राउंड पर पता करें और सामान्य वोल्टेज से इसकी तुलना करें। दोष क्षेत्र को संपीड़ित करने और क्षतिग्रस्त घटकों का पता लगाने के लिए मूल्यों की तुलना करें। मापते समय निम्नलिखित आठ बिंदुओं पर ध्यान दें:

क. मल्टीमीटर का आंतरिक प्रतिरोध पर्याप्त बड़ा होना चाहिए, जो मापे जा रहे सर्किट के प्रतिरोध से कम से कम 10 गुना अधिक हो, ताकि बड़ी माप त्रुटियों से बचा जा सके।

ख. आमतौर पर, प्रत्येक पोटेंशियोमीटर को बीच की स्थिति में घुमाएँ। यदि यह एक टीवी है, तो सिग्नल स्रोत को एक मानक रंग बार सिग्नल जनरेटर का उपयोग करना चाहिए।

सी. टेस्ट लीड या जांच के लिए एंटी-स्लिप उपाय किए जाने चाहिए। कोई भी तात्कालिक शॉर्ट सर्किट आसानी से आईसी को नुकसान पहुंचा सकता है। टेस्ट लीड को फिसलने से रोकने के लिए निम्नलिखित विधि का उपयोग किया जा सकता है: साइकिल वाल्व कोर का एक टुकड़ा लें और इसे टेस्ट लीड टिप पर रखें, और टेस्ट लीड टिप को लगभग 0.5 मिमी तक बढ़ाएँ। यह न केवल टेस्ट लीड टिप को परीक्षण बिंदु के साथ अच्छी तरह से संपर्क में ला सकता है, बल्कि प्रभावी रूप से फिसलने से भी रोक सकता है, भले ही यह आसन्न बिंदुओं से टकराए, कोई शॉर्ट सर्किट नहीं होगा।

d. जब किसी निश्चित पिन का मापा वोल्टेज सामान्य मान से मेल नहीं खाता है, तो आईसी की गुणवत्ता का आकलन यह विश्लेषण करके किया जाना चाहिए कि क्या पिन वोल्टेज का आईसी के सामान्य संचालन पर कोई महत्वपूर्ण प्रभाव पड़ता है और अन्य पिनों के वोल्टेज में इसी प्रकार के परिवर्तन होते हैं।

ई. आईसी पिन वोल्टेज परिधीय घटकों से प्रभावित होगा। जब परिधीय घटक लीक, शॉर्ट सर्किट, ओपन सर्किट या परिवर्तन मूल्य, या परिधीय सर्किट परिवर्तनीय प्रतिरोध के साथ एक पोटेंशियोमीटर से जुड़ा होता है, तो पोटेंशियोमीटर स्लाइडिंग आर्म की स्थिति बदल जाएगी, जिससे पिन वोल्टेज बदल जाएगा।

यदि आईसी के प्रत्येक पिन का वोल्टेज सामान्य है, तो आईसी को आम तौर पर सामान्य माना जाता है; यदि आईसी के कुछ पिन का वोल्टेज असामान्य है, तो आपको उस बिंदु से शुरू करना चाहिए जहां वोल्टेज सामान्य मूल्य से सबसे अधिक विचलित होता है और जांच करनी चाहिए कि परिधीय घटक दोषपूर्ण हैं या नहीं। यदि कोई दोष नहीं है, तो आईसी क्षतिग्रस्त होने की संभावना है।

जी. टीवी जैसे गतिशील प्राप्त करने वाले उपकरणों के लिए, आईसी के प्रत्येक पिन का वोल्टेज सिग्नल होने या न होने पर अलग-अलग होता है। यदि यह पाया जाता है कि पिन वोल्टेज में बदलाव नहीं होना चाहिए, लेकिन बहुत अधिक परिवर्तन होता है, और इसे सिग्नल के आकार और समायोज्य घटक की स्थिति के साथ बदलना चाहिए, लेकिन नहीं बदलता है, तो यह निर्धारित किया जा सकता है कि आईसी क्षतिग्रस्त है।

h. कई कार्य मोड वाले उपकरणों के लिए, जैसे वीडियो रिकॉर्डर, आईसी के प्रत्येक पिन का वोल्टेज भी अलग-अलग कार्य मोड में अलग-अलग होता है।

③ एसी वर्किंग वोल्टेज माप विधि: आईसी के एसी सिग्नल में परिवर्तन को समझने के लिए, डीबी जैक वाले मल्टीमीटर का उपयोग आईसी के एसी वर्किंग वोल्टेज को लगभग मापने के लिए किया जा सकता है। परीक्षण करते समय, मल्टीमीटर को एसी वोल्टेज सेटिंग में रखें, और सकारात्मक परीक्षण लीड को डीबी जैक में डालें; डीबी जैक के बिना मल्टीमीटर के लिए, {{0}}.1 से 0.5 μF डीसी ब्लॉकिंग कैपेसिटर को सकारात्मक परीक्षण लीड में श्रृंखला में जोड़ा जाना चाहिए। यह विधि अपेक्षाकृत कम ऑपरेटिंग आवृत्तियों वाले आईसी के लिए उपयुक्त है, जैसे टीवी वीडियो प्रवर्धन चरण, फ़ील्ड स्कैनिंग सर्किट, आदि। चूंकि इन सर्किटों में अलग-अलग प्राकृतिक आवृत्तियाँ और अलग-अलग तरंगें होती हैं, इसलिए मापा गया डेटा अनुमानित होता है और इसका उपयोग केवल संदर्भ के लिए किया जा सकता है।

④कुल धारा मापन विधि: यह विधि IC पावर सप्लाई लाइन के कुल धारा का पता लगाकर IC की गुणवत्ता का न्याय करने की एक विधि है। चूँकि अधिकांश आंतरिक IC सीधे युग्मित होते हैं, जब IC क्षतिग्रस्त हो जाती है (जैसे कि किसी निश्चित PN जंक्शन का टूटना या खुला सर्किट), तो यह बाद के चरण के संतृप्ति और कटऑफ का कारण बनेगा, जिससे कुल धारा बदल जाएगी। इसलिए, कुल धारा को मापकर IC की गुणवत्ता का अंदाजा लगाया जा सकता है। आप पावर पथ में प्रतिरोधक के वोल्टेज को भी माप सकते हैं और ओम के नियम का उपयोग करके कुल धारा मूल्य की गणना कर सकते हैं।