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सूक्ष्मदर्शी की पाँच सामान्य अवलोकन विधियाँ

Mar 18, 2023

सूक्ष्मदर्शी की पाँच सामान्य अवलोकन विधियाँ

 

1. उज्ज्वल क्षेत्र विधि
किसी नमूने से सीधे परावर्तित प्रकाश को देखने की एक विधि। इलुमिनेटर से प्रकाश एक लंबवत संरेखित उद्देश्य के माध्यम से नमूने पर पड़ता है, और नमूने से प्रत्यक्ष परावर्तित प्रकाश उद्देश्य के माध्यम से देखा जाता है।


2. डार्क फील्ड विधि
विवर्तित प्रकाश से युक्त नमूना सुखाने की विधियों का निरीक्षण करें। रोशनी की रोशनी वस्तुनिष्ठ लेंस की परिधि के माध्यम से नमूने पर तिरछी रूप से आपतित होती है, और विवर्तित प्रकाश का अवलोकन करते समय नमूने से शुष्क प्रकाश का अवलोकन किया जाता है।
नमूनों पर छोटी खरोंच या दरार का पता लगाने और वेफर्स जैसे नमूनों की दर्पण जैसी सतहों का निरीक्षण करने के लिए आदर्श।


3. ध्रुवीकृत प्रकाश विधि
यह एक सूक्ष्म अवलोकन तकनीक है जो रंग फिल्टर (डिटेक्शन पोलराइज़र और पोलराइज़र) के दो सेटों द्वारा गठित ध्रुवीकृत प्रकाश का उपयोग करती है। ये ध्रुवीकरण अक्ष सदैव एक दूसरे के लंबवत होते हैं। कुछ नमूने दो फ़िल्टरों के बीच तीव्र अंतर दिखाते हैं। या द्विअपवर्तन गुणों और अभिविन्यास (यानी जस्ता संरचनाओं के पॉलिश किए गए नमूने) के आधार पर रंग व्यक्त करें। जब विश्लेषक को ऐपिस के सामने अवलोकन प्रकाश पथ में डाला जाता है, तो पोलराइज़र ऊर्ध्वाधर प्रकाशक के सामने प्रकाश पथ में होता है।
यह मेटलोग्राफिक संरचना (यानी लचीले लोहे का ग्रेफाइट विकास मोड), खनिज और लिक्विड क्रिस्टल (एलसीडी) और अर्धचालक सामग्री के अवलोकन के लिए उपयुक्त है।


4. विभेदक हस्तक्षेप विपरीत विधि
यह एक सूक्ष्म अवलोकन तकनीक है जो उज्ज्वल क्षेत्र विधि का उपयोग करके कंट्रास्ट ऊंचाई को त्रिविम या त्रि-आयामी छवि में बदल देती है जिसे उज्ज्वल क्षेत्र विधि द्वारा नहीं देखा जा सकता है। रोशनी की रोशनी को अंतर हस्तक्षेप कंट्रास्ट प्रिज्म से दो विवर्तित रोशनी में बदल दिया जाता है। दो विवर्तित रोशनी के कारण नमूना ऊंचाई में अंतर प्रकाश पथ में एक छोटा सा अंतर पैदा करता है, और प्रकाश पथ में अंतर कंट्रास्ट प्रिज्म और विभेदक इंटरफेरोमेट्री का उपयोग करने वाले विश्लेषक के बीच विरोधाभास बन जाता है।
अत्यधिक परिवर्तनशील रंगीन विपथन को बढ़ाने के लिए संवेदनशील नमूनों का पुन: उपयोग किया जाता है।
यह मेटलोग्राफिक संरचनाओं, खनिजों, चुंबकीय सिरों, हार्ड डिस्क सतहों और वेफर परिष्कृत सतहों सहित अत्यधिक उच्च-परिशुद्धता ऊंचाई अंतर वाले नमूनों के परीक्षण के लिए उपयुक्त है।


5. प्रतिदीप्ति विधि
इस तकनीक का उपयोग प्रतिदीप्त नमूनों के लिए किया जाता है।
यह वेफर संदूषण, अवशिष्ट प्रकाश संवेदनशील राल का पता लगाने और प्रतिदीप्ति विधि द्वारा दरारों का पता लगाने के लिए उपयुक्त है।

 

4 Electronic Magnifier

 

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