कोटिंग मोटाई गेज वर्गीकरण और माप सिद्धांत
कोटिंग्स, कोटिंग्स, कोटिंग्स, लिबास, रासायनिक रूप से उत्पन्न फिल्मों आदि जैसी सामग्रियों की सतह की सुरक्षा और सजावट के लिए बनाई गई कवरिंग परत को प्रासंगिक राष्ट्रीय और अंतर्राष्ट्रीय मानकों में कोटिंग के रूप में जाना जाता है।
कोटिंग की मोटाई का माप प्रसंस्करण उद्योग और सतह इंजीनियरिंग में गुणवत्ता निरीक्षण का एक महत्वपूर्ण हिस्सा बन गया है, और उत्पादों के लिए बेहतर गुणवत्ता मानकों को पूरा करने के लिए एक आवश्यक साधन है। उत्पादों का अंतर्राष्ट्रीयकरण करने के लिए, चीन ने निर्यातित वस्तुओं और विदेशी-संबंधित परियोजनाओं में कोटिंग की मोटाई के लिए स्पष्ट आवश्यकताएं स्थापित की हैं।
कोटिंग की मोटाई के लिए माप विधियों में मुख्य रूप से वेज कटिंग विधि, लाइट कटिंग विधि, इलेक्ट्रोलिसिस विधि, मोटाई अंतर माप विधि, वजन विधि, एक्स-रे प्रतिदीप्ति विधि, - रे बैकस्कैटर विधि, कैपेसिटेंस विधि, चुंबकीय माप विधि और एड़ी वर्तमान माप विधि शामिल हैं। . इनमें से पहले पांच तरीके बोझिल माप विधियों और धीमी गति के साथ हानिपूर्ण पता लगाने वाले हैं, और ज्यादातर नमूना निरीक्षण के लिए उपयुक्त हैं।
एक्स-रे और बीटा किरण विधियां गैर-संपर्क गैर-विनाशकारी माप हैं, लेकिन उपकरण जटिल और महंगे हैं, और माप सीमा छोटी है। रेडियोधर्मी स्रोतों की उपस्थिति के कारण, उपयोगकर्ताओं को विकिरण सुरक्षा नियमों का पालन करना होगा। एक्स-रे विधि अत्यंत पतली कोटिंग, डबल कोटिंग और मिश्र धातु कोटिंग को माप सकती है। बीटा किरण विधि 3 से अधिक परमाणु संख्या वाले कोटिंग्स और सब्सट्रेट्स को मापने के लिए उपयुक्त है। कैपेसिटेंस विधि का उपयोग केवल पतली प्रवाहकीय सामग्री की इन्सुलेशन परत की मोटाई को मापने के लिए किया जाता है।
प्रौद्योगिकी की बढ़ती प्रगति के साथ, विशेष रूप से हाल के वर्षों में, माइक्रो कंप्यूटर प्रौद्योगिकी की शुरूआत के साथ, चुंबकीय और एड़ी वर्तमान तरीकों का उपयोग करके मोटाई गेज ने लघुकरण, बुद्धिमत्ता, बहुक्रियाशीलता, उच्च परिशुद्धता और व्यावहारिकता की ओर एक कदम उठाया है। माप का रिज़ॉल्यूशन 0.1 माइक्रोमीटर तक पहुंच गया है, और महत्वपूर्ण सुधार के साथ सटीकता 1% तक पहुंच सकती है। इसमें अनुप्रयोगों की एक विस्तृत श्रृंखला, एक विस्तृत श्रृंखला, सरल संचालन और कम लागत है, जो इसे उद्योग और वैज्ञानिक अनुसंधान में व्यापक रूप से उपयोग किया जाने वाला मोटाई मापने वाला उपकरण बनाती है।
गैर-विनाशकारी तरीकों का उपयोग न तो कोटिंग को नुकसान पहुंचाता है और न ही सब्सट्रेट को, तेज पहचान गति के साथ, बड़ी मात्रा में परीक्षण कार्य को आर्थिक रूप से पूरा करने में सक्षम बना सकता है।
भंवर धारा माप के सिद्धांत
उच्च आवृत्ति एसी सिग्नल जांच कुंडल में विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र उत्पन्न करते हैं, और जब जांच कंडक्टर के करीब होती है, तो इसके भीतर एड़ी धाराएं बनती हैं। जांच प्रवाहकीय सब्सट्रेट के जितनी करीब होगी, एड़ी धारा और प्रतिबिंब प्रतिबाधा उतनी ही अधिक होगी। यह फीडबैक क्रिया जांच और प्रवाहकीय सब्सट्रेट के बीच की दूरी को दर्शाती है, जो प्रवाहकीय सब्सट्रेट पर गैर-प्रवाहकीय कोटिंग की मोटाई है। इस तथ्य के कारण कि इस प्रकार की जांच विशेष रूप से गैर-लौहचुंबकीय धातु सब्सट्रेट्स पर कोटिंग की मोटाई को मापने के लिए डिज़ाइन की गई है, इसे आमतौर पर गैर-चुंबकीय जांच के रूप में जाना जाता है। गैर-चुंबकीय जांच कुंडल कोर के रूप में उच्च आवृत्ति सामग्री का उपयोग करती है, जैसे प्लैटिनम निकल मिश्र धातु या अन्य नई सामग्री। चुंबकीय प्रेरण के सिद्धांत की तुलना में, मुख्य अंतर यह है कि मापने वाला सिर अलग है, सिग्नल की आवृत्ति अलग है, और सिग्नल का आकार और स्केल संबंध अलग है। चुंबकीय प्रेरण मोटाई गेज की तरह, एड़ी वर्तमान मोटाई गेज ने भी 0.1um का उच्च रिज़ॉल्यूशन, 1% की स्वीकार्य त्रुटि और 10 मिमी की सीमा हासिल की है।
एड़ी धारा के सिद्धांत का उपयोग करने वाला एक मोटाई गेज सभी प्रवाहकीय सामग्रियों पर गैर-प्रवाहकीय कोटिंग्स को माप सकता है, जैसे कि पेंट, प्लास्टिक कोटिंग्स, और एयरोस्पेस विमान, वाहनों, घरेलू उपकरणों, एल्यूमीनियम मिश्र धातु के दरवाजे और खिड़कियां, और अन्य एल्यूमीनियम की सतहों पर एनोडाइज्ड फिल्में। उत्पाद. कोटिंग सामग्री में चालकता की एक निश्चित डिग्री होती है, जिसे अंशांकन के माध्यम से भी मापा जा सकता है, लेकिन यह आवश्यक है कि दोनों के बीच चालकता का अनुपात कम से कम 3-5 गुना भिन्न होना चाहिए (जैसे तांबे पर क्रोम चढ़ाना)। हालाँकि स्टील मैट्रिक्स भी एक प्रवाहकीय सामग्री है, फिर भी ऐसे कार्यों को मापने के लिए चुंबकीय सिद्धांत अधिक उपयुक्त हैं
