एक सीधा या उल्टा माइक्रोस्कोप ख़रीदना
मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप, जिसे सामग्री माइक्रोस्कोप के रूप में भी जाना जाता है, का उपयोग मुख्य रूप से धातु ऊतक की संरचना का निरीक्षण करने के लिए किया जाता है, जिसे सीधे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप और उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में विभाजित किया जा सकता है।
सीधा मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप अवलोकन के दौरान एक सकारात्मक छवि बनाता है, जो उपयोगकर्ता के अवलोकन और पहचान में बहुत सुविधा लाता है। 20-30मिमी ऊंचाई वाले धातु के नमूनों के विश्लेषण और पहचान के अलावा, यह लोगों की दैनिक आदतों के अनुरूप है। , इसलिए इसका उपयोग पारदर्शी, पारभासी या अपारदर्शी पदार्थों में अधिक व्यापक रूप से किया जाता है। 3 माइक्रोन से बड़ी और 20 माइक्रोन से कम की अवलोकन वस्तुएं, जैसे कि सेरमेट, इलेक्ट्रॉनिक चिप्स, मुद्रित सर्किट, एलसीडी सब्सट्रेट, फिल्म, फाइबर, दानेदार वस्तुएं, कोटिंग्स और अन्य सामग्री सतह संरचनाएं और निशान, अच्छे इमेजिंग प्रभाव डाल सकते हैं। इसके अलावा, बाहरी कैमरा सिस्टम को वास्तविक समय और स्थिर और गतिशील छवि अवलोकन, भंडारण, संपादन, मुद्रण के लिए वीडियो स्क्रीन और कंप्यूटर से आसानी से जोड़ा जा सकता है, और अधिक पेशेवर मेटलोग्राफी, माप और की जरूरतों को पूरा करने के लिए विभिन्न सॉफ्टवेयर के साथ जोड़ा जा सकता है। इंटरैक्टिव शिक्षण क्षेत्र। इनवर्टेड मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप विभिन्न धातुओं और मिश्र धातुओं की संरचना की पहचान और विश्लेषण करने के लिए ऑप्टिकल प्लेन इमेजिंग की विधि का उपयोग करता है। यह मेटलोग्राफी में मेटलोग्राफिक अनुसंधान के लिए एक महत्वपूर्ण उपकरण है। कास्टिंग गुणवत्ता और कच्चे माल के निरीक्षण के लिए कारखानों या प्रयोगशालाओं में इसका व्यापक रूप से उपयोग किया जा सकता है। , या प्रक्रिया उपचार के बाद सामग्रियों की मेटलोग्राफिक संरचना का अनुसंधान और विश्लेषण, ताकि सहज विश्लेषण परिणाम प्रदान किया जा सके, यह खनन, धातु विज्ञान, विनिर्माण और मैकेनिकल में कास्टिंग, गलाने और गर्मी उपचार की गुणवत्ता पहचान और विश्लेषण के लिए महत्वपूर्ण उपकरण है। प्रसंस्करण उद्योग.
हाल के वर्षों में, माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक उद्योग को चिप उत्पादन का समर्थन करने के लिए उच्च-आवर्धन प्लानर माइक्रोस्कोपी की आवश्यकता है। इसलिए, प्रचार और उपयोग के लिए मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप को इस क्षेत्र में पेश किया गया है, और उद्योग की विशेष जरूरतों को पूरा करने के लिए इसमें लगातार सुधार किया जा रहा है। उलटा धातुकर्म माइक्रोस्कोप, क्योंकि नमूने की अवलोकन सतह नीचे की ओर कार्यक्षेत्र की सतह के साथ मेल खाती है, और अवलोकन उद्देश्य लेंस ऊपर की ओर निरीक्षण करने के लिए कार्यक्षेत्र के नीचे स्थित है, यह अवलोकन रूप नमूने की ऊंचाई तक सीमित नहीं है, यह आसान है उपयोग करने के लिए, उपकरण संरचना में कॉम्पैक्ट है, और सुंदर और सुरुचिपूर्ण है, उल्टे मेटलोग्राफिक माइक्रोस्कोप के आधार में एक बड़ा सहायक क्षेत्र है, गुरुत्वाकर्षण का केंद्र कम, स्थिर और विश्वसनीय है, ऐपिस और सहायक सतह 45 डिग्री पर झुकी हुई है , अवलोकन को आरामदायक बनाना।
