ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप का संक्षिप्त परिचय
संक्षिप्त परिचय
इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप और ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप का इमेजिंग सिद्धांत मूल रूप से समान है, लेकिन अंतर यह है कि पूर्व प्रकाश स्रोत के रूप में इलेक्ट्रॉन बीम और लेंस के रूप में विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र का उपयोग करता है। इसके अलावा, क्योंकि इलेक्ट्रॉन बीम की पैठ बहुत कमजोर है, इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप के लिए उपयोग किए जाने वाले नमूने को लगभग 50nm की मोटाई के साथ अति पतले वर्गों में बनाया जाना चाहिए। इस प्रकार के टुकड़े को अल्ट्रामाइक्रोटोम से बनाने की आवश्यकता होती है। एक इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप का आवर्धन लगभग दस लाख गुना तक हो सकता है, और इसमें पांच भाग होते हैं: रोशनी प्रणाली, इमेजिंग प्रणाली, वैक्यूम प्रणाली, रिकॉर्डिंग प्रणाली और बिजली आपूर्ति प्रणाली। यदि उप-विभाजित किया जाता है, तो मुख्य भाग इलेक्ट्रॉनिक लेंस और इमेजिंग रिकॉर्डिंग सिस्टम हैं, जो इलेक्ट्रॉन गन, कंडेनसर, नमूना कक्ष, ऑब्जेक्टिव लेंस, विवर्तन दर्पण, मध्यवर्ती दर्पण, प्रक्षेपण दर्पण, फ्लोरोसेंट स्क्रीन और वैक्यूम में रखे गए कैमरे से बने होते हैं।
इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप एक माइक्रोस्कोप है जो किसी वस्तु के अंदर या सतह को दिखाने के लिए इलेक्ट्रॉनों का उपयोग करता है। उच्च गति वाले इलेक्ट्रॉनों की तरंग दैर्ध्य दृश्य प्रकाश (तरंग-कण द्वंद्व) की तुलना में कम होती है, और माइक्रोस्कोप का रिज़ॉल्यूशन प्रयुक्त तरंग दैर्ध्य द्वारा सीमित होता है, इसलिए इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप का सैद्धांतिक रिज़ॉल्यूशन (लगभग {{2%).1 एनएम ) ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप (लगभग 200 एनएम) की तुलना में बहुत अधिक है।
ट्रांसमिशनइलेक्ट्रॉनमाइक्रोस्कोप (टीईएम), जिसे ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप [1] कहा जाता है, एक बहुत पतले नमूने पर त्वरित और केंद्रित इलेक्ट्रॉन किरण को प्रोजेक्ट करता है, और इलेक्ट्रॉन दिशा बदलने के लिए नमूने में परमाणुओं से टकराते हैं, इस प्रकार ठोस कोणीय बिखराव उत्पन्न होता है। प्रकीर्णन कोण नमूने के घनत्व और मोटाई से संबंधित है, इसलिए विभिन्न चमक वाली छवियां बनाई जा सकती हैं, और छवियों को प्रवर्धन और फोकस के बाद इमेजिंग उपकरणों (जैसे फ्लोरोसेंट स्क्रीन, फिल्म और प्रकाश संवेदनशील युग्मन घटकों) पर प्रदर्शित किया जाएगा।
क्योंकि इलेक्ट्रॉनों की डी ब्रोगली तरंग दैर्ध्य बहुत कम है, ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप का रिज़ॉल्यूशन ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप की तुलना में बहुत अधिक है, जो {{0}}.1 ~ 0.2 एनएम तक पहुंच सकता है और आवर्धन हजारों में है ~लाखों बार. इसलिए, ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप का उपयोग नमूने की बारीक संरचना, यहां तक कि परमाणुओं के केवल एक स्तंभ की संरचना का निरीक्षण करने के लिए किया जा सकता है, जो ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप द्वारा देखी जा सकने वाली सबसे छोटी संरचना से हजारों गुना छोटी है। टीईएम भौतिकी और जीवविज्ञान से संबंधित कई वैज्ञानिक क्षेत्रों में एक महत्वपूर्ण विश्लेषणात्मक विधि है, जैसे कि कैंसर अनुसंधान, वायरोलॉजी, सामग्री विज्ञान, नैनो टेक्नोलॉजी, अर्धचालक अनुसंधान इत्यादि।
जब आवर्धन कम होता है, तो टीईएम इमेजिंग का कंट्रास्ट मुख्य रूप से सामग्रियों की विभिन्न मोटाई और संरचना के कारण इलेक्ट्रॉनों के विभिन्न अवशोषण के कारण होता है। हालाँकि, जब आवर्धन अधिक होता है, तो जटिल उतार-चढ़ाव छवि की अलग चमक का कारण बनेगा, इसलिए प्राप्त छवि का विश्लेषण करने के लिए पेशेवर ज्ञान की आवश्यकता होती है। टीईएम के विभिन्न तरीकों का उपयोग करके, नमूनों को रासायनिक विशेषताओं, क्रिस्टल अभिविन्यास, इलेक्ट्रॉनिक संरचना, नमूनों के कारण होने वाले इलेक्ट्रॉन चरण बदलाव और इलेक्ट्रॉनों के सामान्य अवशोषण द्वारा चित्रित किया जा सकता है।
