इलेक्ट्रॉनिक्स उद्योग में छोटे उपकरणों में अवरक्त माइक्रोस्कोप का अनुप्रयोग
नैनो टेक्नोलॉजी के विकास के साथ, इसके टॉप-डाउन लघुकरण दृष्टिकोण को अर्धचालक प्रौद्योगिकी के क्षेत्र में तेजी से लागू किया जा रहा है। हम आईसी तकनीक "माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक्स" को कॉल करते थे क्योंकि ट्रांजिस्टर का आकार माइक्रोमीटर (10-6 मीटर) रेंज में होता है। लेकिन सेमीकंडक्टर तकनीक बहुत तेज़ी से विकसित हो रही है, हर दो साल में एक पीढ़ी द्वारा आगे बढ़ रही है, और आकार अपने मूल आकार के आधे तक सिकुड़ जाएगा, जो कि प्रसिद्ध मूर का कानून है। लगभग 15 साल पहले, सेमीकंडक्टर्स ने उप माइक्रोन युग में प्रवेश करना शुरू कर दिया, जो कि माइक्रोमीटर से छोटा है, इसके बाद एक गहरा उप माइक्रोन युग है, जो माइक्रोमीटर की तुलना में बहुत छोटा है। 2 0 01 तक, ट्रांजिस्टर का आकार भी 0.1 माइक्रोमीटर से कम हो गया था, जो 100 नैनोमीटर से कम है। इसलिए, नैनोइलेक्ट्रॉनिक्स के युग में, भविष्य के अधिकांश आईसीएस नैनो टेक्नोलॉजी का उपयोग करके बनाए जाएंगे।
तकनीकी आवश्यकताएं:
वर्तमान में, इलेक्ट्रॉनिक डिवाइस की विफलता का मुख्य रूप थर्मल विफलता है। आंकड़ों के अनुसार, 55% इलेक्ट्रॉनिक डिवाइस विफलताएं निर्दिष्ट मूल्य से अधिक तापमान के कारण होती हैं, और बढ़ते तापमान के साथ इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों की विफलता दर तेजी से बढ़ जाती है। सामान्यतया, इलेक्ट्रॉनिक घटकों की परिचालन विश्वसनीयता तापमान के प्रति अत्यधिक संवेदनशील है, 70-80 डिग्री सेल्सियस के बीच डिवाइस के तापमान में प्रत्येक 1 डिग्री की वृद्धि के लिए विश्वसनीयता में 5% की कमी के साथ। इसलिए, डिवाइस के तापमान का जल्दी और मज़बूती से पता लगाना आवश्यक है। अर्धचालक उपकरणों के तेजी से छोटे आकार के कारण, उच्च आवश्यकताओं को तापमान संकल्प और पहचान उपकरणों के स्थानिक संकल्प पर रखा गया है।
