ऑसिलोस्कोप पैसिव प्रोब्स का सहायक उपयोग
सबसे पहले, आइए अर्थ वायर से शुरू करें। आम तौर पर, मानक 15 सेमी लंबे काले ग्राउंड क्लैंप का उपयोग अर्थ वायर को जोड़ने के लिए किया जा सकता है, लेकिन उच्च आवृत्ति संकेतों को मापते समय प्रेरण प्रभाव के कारण इतना लंबा अर्थ वायर बड़े दोलन उत्पन्न करेगा, और फिर स्विचिंग पावर सप्लाई अवसरों में युग्मित होने पर बहुत शोर भी होगा। बहुत से लोग नहीं जानते होंगे, 200 मेगाहर्ट्ज ~ 300 मेगाहर्ट्ज की बैंडविड्थ के साथ इतने लंबे ग्राउंड के उपयोग में आमतौर पर इस्तेमाल किया जाने वाला 500 मेगाहर्ट्ज पैसिव जांच खराब नहीं है। इसलिए यदि आप उच्च आवृत्ति माप करना चाहते हैं, तो आपको एक छोटे अर्थ वायर का उपयोग करने की आवश्यकता है, जैसे कि कुछ ग्राउंडेड स्प्रिंग पिन या स्प्रिंग टैब। इस तरह के छोटे अर्थ वायर का उपयोग एक समस्या लाता है कि पता लगाने के बिंदु के पास एक उपयुक्त ग्राउंड पॉइंट नहीं मिल सकता है, और फिर एक लंबे तार की ओर ले जाने से इंडक्शन बढ़ जाएगा, इसलिए तांबे की शीट के इसी ग्राउंडिंग के माध्यम से पता लगाने के बिंदु के पास संदर्भ ग्राउंड तक। तांबे की शीट के बड़े क्रॉस-सेक्शनल क्षेत्र के कारण, इसका इंडक्शन छोटा है और यह एक आदर्श ग्राउंड संदर्भ बिंदु प्रदान कर सकता है। नीचे एक ग्राउंडेड कॉपर शीट के साथ स्प्रिंग-लोडेड ग्राउंडिंग लग का उपयोग करके किए गए परीक्षण का एक उदाहरण दिया गया है।
सिग्नल डिटेक्शन के बारे में थोड़ा और। हम सभी जानते हैं कि जांच हुक के सामने की जांच को माप करने के लिए जांच के सामने से हटाया जा सकता है, लेकिन अगर जांच बहुत मोटी है तो कुछ उच्च घनत्व वाले पिन को मापना सुविधाजनक नहीं है, और बहुत पतली है तो स्थायी और क्षतिग्रस्त हो सकती है। इसलिए, कुछ जांचों में जांच के लिए कुछ स्पेयर पार्ट्स होते हैं, जिन्हें उपयोगकर्ता आसानी से बदल सकता है। जांच को बदलते समय, मूल जांच को खींचने के लिए एक सरौता का उपयोग करें और इसे एक नए के साथ बदलें।
कुछ उच्च घनत्व वाले QFp या DIp पैकेज डिवाइस के लिए, यदि आप जांच को सीधे चिप पिन पर उपयोग करना चाहते हैं तो जांच आमतौर पर अधिक खतरनाक होती है, क्योंकि जांच दो आसन्न पिन से दूर खिसक सकती है जिसके परिणामस्वरूप शॉर्ट सर्किट हो सकता है। इस एप्लिकेशन के लिए, कुछ जांच प्लास्टिक आईसी युक्तियों के साथ आपूर्ति की जाती हैं। इन युक्तियों को जांच के सामने रखा जाता है और उनकी पच्चर के आकार की संरचना यह सुनिश्चित करती है कि विश्वसनीय संपर्क बनाते समय जांच की नोक फिसल न जाए, इस प्रकार माप के जोखिम से बचा जाता है। ये आईसी जांच अलग-अलग चिप पिन स्पेसिंग के लिए रंग कोडित हैं और 0.5 मिमी से 1.27 मिमी तक पिन स्पेसिंग का समर्थन कर सकते हैं।
ऑन-बोर्ड सिग्नल परीक्षण के लिए एक और तरीका स्लीव्स या बहुत छोटे ग्रैपलिंग हुक का उपयोग करना है। स्लीव्स सीधे कनेक्शन के लिए बेहतर अनुकूल हैं
स्लीव्स बोर्ड पर पिन से सीधे जुड़ने के लिए बेहतर हैं, जबकि स्लीव के सामने लगे ग्रैपलिंग हुक को बहुत आसानी से पिन या चिप के लीड पर लगाया जा सकता है। बेशक, यह विधि सुविधा प्रदान करती है जबकि लंबे ग्राउंड और सिग्नल वायर के इस्तेमाल के कारण जांच की बैंडविड्थ को भी प्रभावित करती है। छोटे ग्रैपलिंग हुक को 0.5 मिमी की न्यूनतम पिन पिच तक भी सपोर्ट किया जा सकता है।
विशेष अनुप्रयोगों के लिए जांच सहायक उपकरण भी उपलब्ध हैं। उदाहरण के लिए, बोर्ड पर कुछ महत्वपूर्ण संकेतों के लिए, यदि आप उन्हें यथासंभव आसानी से और विश्वसनीय रूप से मापना चाहते हैं, तो आप व्यावहारिक होने पर पीसीबी पर एक जांच एडाप्टर आरक्षित कर सकते हैं। जब आपको परीक्षण करने की आवश्यकता होती है, तो आपको बस एडाप्टर में जांच को प्लग करना होगा, जो बैंडविड्थ की गारंटी देता है और माप को सुविधाजनक बनाता है। इसके अलावा, यदि परीक्षण के तहत संकेत सीधे समाक्षीय कनेक्टर का आउटपुट प्रदान कर सकता है, जैसे कि BNC इंटरफ़ेस, तो इसे जांच के BNC एडाप्टर और BNC केबल के माध्यम से सीधे जोड़ा जा सकता है, यह भी बहुत विश्वसनीय और सुविधाजनक है।
कुछ परीक्षण जैसे कि जिटर, आई डायग्राम, टेम्पलेट इत्यादि भी हैं, जिन्हें माप के लिए आवश्यक लंबे समय के कारण ऑफ-हैंड परीक्षण की आवश्यकता होती है। हाथ से पकड़े जाने वाला तरीका सुविधाजनक है, लेकिन अविश्वसनीय है और बहुत लंबे समय तक नहीं चलता है। ऑफ-हैंड परीक्षण करने का सबसे आसान तरीका जांच को 2- पैर वाले जांच क्लैंप से जोड़ना और गुरुत्वाकर्षण द्वारा परीक्षण बिंदु के खिलाफ इसे दबाना है। अधिक जटिल स्थितियों के लिए, 3- आयामी जांच भुजा का विकल्प भी है जो जांच को जगह पर जकड़ता है और आवश्यकतानुसार जांच की स्थिति और कोण को समायोजित करता है। यह 3- आयामी जांच धारक एक अच्छा काम करता है अगर कीमत बहुत महंगी है, यहां तक कि एक साधारण निष्क्रिय जांच की कीमत से भी अधिक है, इसलिए केवल कुछ विशेष माप अवसरों में इसका उपयोग किया जाएगा।
हाथ से पकड़ने की विधि सुविधाजनक है लेकिन अविश्वसनीय है और बहुत लंबे समय तक नहीं चलती है। ऑफ-हैंड परीक्षण करने का सबसे आसान तरीका जांच को 2-लेग्ड जांच क्लैंप पर रखना और गुरुत्वाकर्षण द्वारा परीक्षण बिंदु के खिलाफ इसे दबाना है। अधिक जटिल स्थितियों के लिए, 3-आयामी जांच भुजा का विकल्प भी है जो जांच को जगह पर क्लैंप करता है और आवश्यकतानुसार जांच की स्थिति और कोण को समायोजित करता है। ये 3-आयामी जांच भुजाएँ बहुत महंगी हो सकती हैं यदि वे अच्छी तरह से बनाई गई हों, यहाँ तक कि एक सामान्य निष्क्रिय जांच की कीमत से भी अधिक, इसलिए उनका उपयोग केवल कुछ विशेष माप स्थितियों में किया जाता है।
इसके अतिरिक्त, निष्क्रिय जांच आमतौर पर मिलान क्षमता को समायोजित करने के लिए एक छोटे पेचकस के साथ आती है, या रंगीन छल्ले होते हैं जिन्हें विभिन्न चैनलों के बीच अंतर करने के लिए जांच से जोड़ा जा सकता है।
